OXFORD
INCA ENERGY
5년
부대장비(부가장치)
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경 (주장비: )
2005.03.28.
₩56,871,880
기관의뢰
고정형
시간별
₩10,000
가속된 전자빔을 조사할 때 방출되는 엑스선을 이용한 시료 표면의 성분분석을 하는 분석장비임.
시료표면의 마이크론 영역에 대한 성분분석 지원 : 금속, 무기재료, 반도체 재료 등
1. Detector window : Super almosphere supporing thin window
2. Detector Resolution : 138 eV
3. Detectable Element : 4Be ~ 92U
4. Analysis mode : point, line, area