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전계방출형주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
전계방출형주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
나노형상분석 및 성분분석
"S-4800- Resoution : 1.0nm at 15KV,…
S-4800- Resoution : 1.0nm at 15KV, 1.4nm at 1KV- M…
임피던스측정기/연료전지평가시스템 (Multi Electrochemical Impedence Spectroscopy/Fuel Cell Test Station)
임피던스측정기/연료전지평가시스템 (Multi Electrochemical Impedence Spectroscopy/Fuel Cell Test Station)
1. 교류 임피던스 측정기Number of Channel : 8 Impedance floa…
1. 교류 임피던스 측정기Number of Channel : 8 Impedance floa…
용융방사기 (Melt Blown Spinning System)
용융방사기 (Melt Blown Spinning System)
용융방사기는 합성섬유의 대부분을 차지하는 방사시설로서 이것은 합성된 원료의 polymer를…
Temp. range : 상온~400℃ Extruder/Gear pump RPM : 0~6…
전기방사기 (Eletro Spinning System)
전기방사기 (Eletro Spinning System)
전기방사법은 노즐을 통해 밀리미터 직경의 액체 분사물(jet)을 방출시켜 나노섬유로 된 부…
1. 최대인가전압 : 100kV 2. 유체 이송 : 질소 등의 기체 이용 3. 회전형 Co…
반도체소자 평가시스템 (IV-CV-PIV) (Semiconductor Device Analyzing System)
반도체소자 평가시스템 (IV-CV-PIV) (Semiconductor Device Analyzing System)
"K4200- IV Max. Current Source : 1 pA to 1A- CV Fr…
"K4200- IV Max. Current Source : 1 pA to 1A- CV Fr…
면저항측정기 (4-point probe)
면저항측정기 (4-point probe)
_ 4_point probe head pin spacing : 1mm_ Direct cur…
_ 4_point probe head pin spacing : 1mm_ Direct cur…
태양전지평가시스템 (Solar Cell Test System)
태양전지평가시스템 (Solar Cell Test System)
"IKW- 광원 : Xe-lamp- 최대 광출력 : 1KW- 광조사면적 : 100mm*10…
"IKW- 광원 : Xe-lamp- 최대 광출력 : 1KW- 광조사면적 : 100mm*10…
스퍼터링 증착 시스템 (Sputtering System)
스퍼터링 증착 시스템 (Sputtering System)
1, CHAMBER - Material: Electro-polished SUS304 - S…
1, CHAMBER - Material: Electro-polished SUS304 - S…
광전소자특성평가시스템 (IVL Measurement System)
광전소자특성평가시스템 (IVL Measurement System)
1. SpectroColorimeter - Spectral Range : 380nm ~ 7…
1. SpectroColorimeter - Spectral Range : 380nm ~ 7…
전자현미경 전처리장비 (Sample Preparation Tools for FE-SEM)
전자현미경 전처리장비 (Sample Preparation Tools for FE-SEM)
1. 다이아몬드 컷터(Accutom-50)
2. 마운터(LaboPol-5)
3. 글라인…
1. 다이아몬드 컷터(Accutom-50)
2. 마운터(LaboPol-5)
3. 글라인…