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동적 열재료 측정기 (Dynamic Thermal Interface Material)
동적 열재료 측정기 (Dynamic Thermal Interface Material)
본 장비는 방열 효율을 높이기 위해 발열체와 히트싱크 간의 접촉면을 채우는 역할을 하는 열…
1.Thermal Interface Materials Tester
-manual tran…
전자파 간섭EMI 차폐 평가설비 (EMI Shielding Evaluation Devices)
전자파 간섭EMI 차폐 평가설비 (EMI Shielding Evaluation Devices)
- 반도체 차폐소재에 대한 유전율, 투자율 및 차폐 특성 측정, 지그와 결합한 연구 에 필…
3-1. 벡터 네트워크 분석기1 (8.5GHz) (Vecor Network Analyzer…
임계점 건조기 (Critical Point Dryer system)
임계점 건조기 (Critical Point Dryer system)
- 임계점 증발기는 액상 CO₂를 이용하여 3차원 나노 구조체 물질의 형상을 그대로 유지하…
- 시료의 표면 장력을 최소화해 원형 그대로의 구조 유지가 필요한 나노·미세 시료에 적합
…
원심분리기 등 2종 (Contrifuge)
원심분리기 등 2종 (Contrifuge)
1) 최대회전수 : 100 ~ 16220rpm(Angle rotor, Increment :…
5427 R rotary button
Refrigeration
Rotor FA-45-4…
회전식 용매 증발기 시스템 (Rotary Evaporator)
회전식 용매 증발기 시스템 (Rotary Evaporator)
- 용매를 효율적으로 제거하고 시료를 농축하는 데 최적화된 장비
- 정밀한 온도 제어와 …
- 회전 플라스크 : 최대 1L
- 물/오일 배스(WB) 온도조절 범위 : 일반적으로 실…
Wet 싱크 (wet sink)
Wet 싱크 (wet sink)
- Wet Sink는 실험실 안전설비 중 하나로, 생명과학, 화학, 제약, 환경 분석 등 …
- 스크러버 일체형 : 2000*800*2300H
- P.P 워크스테이션 : 1400*8…
비행시간형 이차이온질량분석기 (time of flight secondary ion mass spectrometer)
비행시간형 이차이온질량분석기 (time of flight secondary ion mass spectrometer)
- 표면 및 단면의 화학 조성을 정밀 분석 가능
- 3D 깊이 방향 분석과 고해상도 화학…
1. Reflectron type TOF analyzer - 1 set
2. UHV…
오제이전자분광분석기 (Electron Source for AES upgrade)
오제이전자분광분석기 (Electron Source for AES upgrade)
AES는 오제 전자를 검출하여 표면 원소를 분석하는 방법 중 하나입니다.
AES를 기존 …
1. 전계 방출 전자 소스 (전원공급부 포함)
(1) 10kV Schottky 전계방출전…
고가속 스트레스 시험 평가 (Unbiased Highly Accelerated Stress Test)
고가속 스트레스 시험 평가 (Unbiased Highly Accelerated Stress Test)
1. 고가속스트레스시험평가는 반도체 기기 및 장비의 국제인증규격에 맞는 극한환경안정성 평가…
1. Dual chamber system (Test & Steam generator)
…
튜브퍼니스 1200℃ (Tube Furnace 1200C)
튜브퍼니스 1200℃ (Tube Furnace 1200C)
고온 열처리가 필요한 박막 단결정 물질을 질소 아르곤 가스 환경에서 열처리하는데 이용. 또…
1. 일반규격
- 3개의 히팅존
- Hot Zone: 600mm length
- 최대…