제공서비스
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초고속 광통신 부품 통신에러 시험 기술 지원 서비스
서비스 개요
| 서비스 유형 | 일반 서비스 |
|---|---|
| 서비스 설명 | 통신 성능을 평가하고, 통신 과정에서 발생하는 에러를 분석·검증하기 위한 시험 기술 지원 서비스 |
| 서비스 설명 자료 |
|
| 분류 | 전기전자 > 전자소자부품·제품 > 전기전자부품 |
| 서비스 공정구분 | 시험/평가/신뢰성 |
| 세부공정 | [Ljava.lang.String;@42e8d531 : 시험/분석/평가 지원 |
| 적용제품 | 광통신 부품 및 소자 |
| 서비스 운영기관 | 반도체인프라센터 |
| 코디네이터 담당자 |
ㆍ성명 : 박주철 / 책임연구원 ㆍ소속기관 : 재단법인구미전자정보기술원 ㆍ연락처 : 1533-0101(내선4), 054-479-2181 ㆍ이메일 : jcpark13@geri.re.kr |
| 서비스 담당자 |
ㆍ성명 : 박진홍 연구원 ㆍ연락처 : 062-6059-521 ㆍ이메일 : pjh@kopti.re.kr |
서비스 상세내용
| 서비스공정 | 서비스 지원기간 | 서비스 설명 | 세부공정 |
|---|---|---|---|
| 1.[Ljava.lang.String;@42e8d531 | 1 ~ 12 개월 |
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서비스공정1.[Ljava.lang.String;@42e8d531서비스 지원기간
- 1 ~ 12 개월
서비스 설명- 시험 의로 및 시료 확인 -> 시험 조건 설정 -> 시험 환경 구성 -> 광통신 신호 송·수신 -> 통신에러 시험 -> 데이터측정·분석 -> 결과 평가 및 기술 지원
세부공정- 시험/분석/평가 지원