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광학-방열 소재물성추출 시스템 (Extraction system of Thermal-optical material property)
광학-방열 소재물성추출 시스템 (Extraction system of Thermal-optical material property)
장비:
1. LED 제품에 사용되는 소재의 열물성 측정
2. 광범위한 작동 온도 범위와…
구성
- 전자동 방식 LFA 본체 1system
- InSb IR detector (인듐 …
공초점 나노현미경 PL 매핑시스템 (Confocal Nanoscope PL Mapping System)
공초점 나노현미경 PL 매핑시스템 (Confocal Nanoscope PL Mapping System)
공초점 현미경의 기능과 PL 기능이 합쳐진 장비로써 발광성 반도체 등의 시료를 고분해능으로…
형광현미경의 기능으로써 수은램프의 특성선들을 선택하여 시료를 여기시키고 발광이미지를 관찰하…
스크린 프린터 (Screen Printer)
스크린 프린터 (Screen Printer)
1. LED 패키지 수직 전극 배선을 위한 봉지재 수직 레이져 비아홀 가공
2. 다이오드…
- 반복 정합 정도 : ±0.025mm 이하
- 마스크 크기 : 736 x 736mm…
교류전력파형분석기 (AC Wave Analyzer system)
교류전력파형분석기 (AC Wave Analyzer system)
4GHz의 대역폭으로 시간에 따른 전압의 변화를 파형으로 나타내주는
장비로서 교류전…
- Nominal Analog Bandwidth : 4 GHz
- Input Anal…
광학시스템열변형분석장비 (Thermal Deformation Analysis and Measurement Instrument)
광학시스템열변형분석장비 (Thermal Deformation Analysis and Measurement Instrument)
1. LED 제품에 사용되는 소재의 고유 동적 역학 특성 측정 및 분석
2. 광범위한 작…
- 온도범위 : 상온 ~ 1550℃
- 승온속도 : 0.01K/min ~ 50K/min
…
다채널전력분석기 (Multi-channel Power analyzer)
다채널전력분석기 (Multi-channel Power analyzer)
1. LED 시스템의 에너지효율 측정 및 분석
2. LED 시스템의 대기전력 모드시 전력…
- Input elements : 2 elements
- Basic accuracy :…
로직분석기능의 디지털 오실로스코프 (Logic embedded analyzer Measurement System)
로직분석기능의 디지털 오실로스코프 (Logic embedded analyzer Measurement System)
1. LED 융합제품에 적용된 전기적 부품의 특성 평가
2. 제품 설계 단계에서의 부품의…
- Must have all Features that described on A. Feat…
적외선 엘이디 광특성 측정시스템 (IR LED Optical characterization measurement system)
적외선 엘이디 광특성 측정시스템 (IR LED Optical characterization measurement system)
Spectrometer CAS140CT systems( 적분구,Probe,기타 포함 )는 …
Spectrometer(CAS140CT-171)
-.Dimension(H,W,D) : …
연속 접합형 솔더 플럭스 유테틱 소자 접합 시스템 (Continous solder flux and eutetic die-attach system)
연속 접합형 솔더 플럭스 유테틱 소자 접합 시스템 (Continous solder flux and eutetic die-attach system)
본 장비는 고출력 LED 소자(수직형칩과 플립칩)의 접합 방식 중 솔더 플럭스와 유테틱 접…
3.2 물품(장비)규격
3.2.1 일반사항
공급자는 다음 물품의 항목에 대하여 규격…
복사열전달계수 측정 및 분석 시스템 (Emissivity Measurement and Analysis System)
복사열전달계수 측정 및 분석 시스템 (Emissivity Measurement and Analysis System)
본 장비는 전기/전자/광학 기구 및 부품에서 온도 변화에 따른 방출 파장과 이상흑체(ide…
- 복사 파장 측정부
● Source 파수 범위 : 350 ~ 7800 cm-1
● D…