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광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경 (주장비: EPN0237765)

없음

주사전자현미경 분석 시 다양한 원소 분석 1. 스펙트럼 수집과 원소 확인 2. 오토 정량 분석: standardless 정량 스펙트럼 분석 3. 추가 스펙트럼 분석: 전문가를 위한 추가 스펙트럼 분석 4. 이미지 습득(Digital 이미지 획득) 5. 라인 분석(성분의 line 분석) 6. 맵핑(디지털 원소 맵핑 분석) 7. 멀티포인트(측정 포인트, 네모, 원을 이용한 다양한 분석 기능)

전계방사형 주사전자현미경을 이용한 이차전지 소재부품의 미세조직 관찰 시 미세조직의 성분을 정성/정량적으로 분석하기 위한 장치 ○ 장치구성 1. 에너지분산형 X-선 분광분석기 및 신호처리장치 2. 분석 Software 3. 컨트롤 PC ○ 장치 주요 Spec - Type: LN2 Free (SSD Type) - 검출기 센서 면적 : 60mm² - 에너지 분해능: 121 eV (@MnKα, 100,000 cps 이상) - 1,500 kcps Input count rate 이상 - 원소 검출 범위: Be(4) to Cf(98) 이상 - 검출기 창: Super Light Element Window (SLEW) - 냉각 방식: Peltier cooled(No fan for vibration free) - Motorized detector retraction system - 신호처리장치 - 분석 Software · 스펙트럼 수집과 원소 확인 · 오토 정량 분석: standardless 정량 스펙트럼 분석 · 추가 스펙트럼 분석: 전문가를 위한 추가 스펙트럼 분석 · 이미지 습득(Digital 이미지 획득) · 라인 분석(성분의 line 분석) · 맵핑(디지털 원소 맵핑 분석) · 멀티포인트(측정 포인트, 네모, 원을 이용한 다양한 분석 기능)