반도체IT센터

서비스 유형	프리미엄 서비스
서비스 설명	모빌리티, 에너지에 적용되는 3kV급 전력반도체의 불량원인을 규명하기 위한 분석 패키지서비스
서비스 설명 자료
분류	전기전자 > 반도체디스플레이 > 반도체
서비스 공정구분	시험/평가/신뢰성, 인증
세부공정	시험/평가/신뢰성 : 측정 및 분석, 신뢰성 및 시험 평가 , 비파괴 분석, 제품고장분석 지원 인증 : 시험 지원
적용제품	전력반도체(MOSFET, IGBT 등)
서비스 운영기관	반도체IT센터
코디네이터 담당자	ㆍ성명 : 박주철 / 책임연구원 ㆍ소속기관 : 재단법인구미전자정보기술원 ㆍ연락처 : 1533-0101(내선4), 054-479-2181 ㆍ이메일 : jcpark13@geri.re.kr
서비스 담당자	ㆍ성명 : 이석준 선임연구원 ㆍ연락처 : 043--270--2334 ㆍ이메일 : sjlee0712@cbtp.or.kr

서비스공정	서비스 지원기간	서비스 설명	세부공정
1.시험/평가/신뢰성	25.01 ~ 25.12 개월	- 전력반도체(MOSFET, IGBT) 고장원인 분석을 위한 Parameter Analyzer, X-Ray, SAT 비파괴 분석 <br/>- 고장원인 정밀 분석을 위한 Decap, EMMI, FIB 파괴분석	측정 및 분석 신뢰성 및 시험 평가 비파괴 분석 제품고장분석 지원
2.인증	25.01 ~ 25.12 개월	- 전력반도체 신뢰성 환경 시험(HTST, LTST, T/C, THS 등) 후 불량제품에 대한 고장원인 컨설팅 지원	시험 지원

제공서비스