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장비정보

  • 제작사

    JEOL

  • 모델 명

    JEM-2100PLUS / AZtec TEM

    내용연수

    5년

  • 구분

    주장비

    용도

    분석

  • 표준 분류

    광학·전자 영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경

  • 취득일

    2017.12.29.

    취득금액

    ₩814,610,722

  • 인증정보

    없음

  • 기능

    반 광학현미경으로 관찰이 불가능한 물질의 미세영역을 전자선을 이용하여 고배율(최소 25배에서 최대 100만배까지)로 확대하여 고분해능의 구조분석 및 물질의 성분 분석을 할 수 있다. 전자빔을 방출하여 집속,확대 시키는 전자광학계, TEM 전용홀더를 장착할 수 있는 Goniometer, 각종 검출기, 조작 테이블, 조작용 PC 등 여러 부품으로 구성되어 있으며, EDS 라는 성분분석기를 사용하여 시편의 관찰 영역에 대한 미지물질의 정성과 정량분석 및 mapping을 할 수 있어 기초 과학 분야의 재료 연구개발 및 분석 등의 연구업무에 필수적으로 활용되는 기초 분석 장비이다.

  • 장비 상세설명

    반 광학현미경으로 관찰이 불가능한 물질의 미세영역을 전자선을 이용하여 고배율(최소 25배에서 최대 100만배까지)로 확대하여 고분해능의 구조분석 및 물질의 성분 분석을 할 수 있다. 전자빔을 방출하여 집속,확대 시키는 전자광학계, TEM 전용홀더를 장착할 수 있는 Goniometer, 각종 검출기, 조작 테이블, 조작용 PC 등 여러 부품으로 구성되어 있으며, EDS 라는 성분분석기를 사용하여 시편의 관찰 영역에 대한 미지물질의 정성과 정량분석 및 mapping을 할 수 있어 기초 과학 분야의 재료 연구개발 및 분석 등의 연구업무에 필수적으로 활용되는 기초 분석 장비이다.

장비 사용법

  • 사용형태

    기관의뢰

    설치형태

    고정형

  • 사용료 형태

    시간별

    장비 사용료

    ₩200,000

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