Bruker Nano Inc.
Innova-IRIS
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2017.09.21.
₩127,000,000
기관의뢰
고정형
건별
₩100,000
주사탐침현미경은 원자수준의 탐침과 시료의 원자간의 상호 작용력을 측정함으로써 나노미터크기 이하의 2D, 3D 표면 이미지를 측정하는 장비로 샘플 표면의 서브 나노스케일의 조도 측정(Roughness Measurement), 거칠기(Roughness), 경도(hardness) 등의 물리적 특성과 표면 전위(Surface potential), 전기장(Electric Force), 전류(Current) 변화 등의 전기적 특성 측정하며 Raman Spectroscopy 장비와 결합하는 확장성을 가지고 있어 성분 분석 장비로도 확장성을 가지고 있습니다
INNONVA IRIS SPM은 Polymer, Material, Chemistry, Biology, Semiconductor와 그 외 다양한 분야에서 시료의 물리적인 특성 측정과 Nanoscale의 표면측정 장비입니다.
INNOVA IRIS SPM은 주장비와 부속장비로 구성되어있습니다.
주장비는 주사탐침현미경 본체, 주사탐침현미경 콘트롤러, 주사탐침현미경 X, Y, Z일체형 스캐너, 자기력 현미경, 표면전이 현미경, 나노경도 현미경등이 각 1 set씩, 그리고 부속장비로 패시브 진동차단 시스템과 소음차단 방음후드 각 1set로 구성되어 있습니다.
장착되는 시료의 최대크기는 가로 세로 높이 45mm x 45mm x 18mm이며, 스캐너의 분해능은 XY는 0.1nm 이하, Z는 0.01nm이하이며, Z축 노이즈는 0.05nm RMS 이하입니다. 스캐너의 XY측 측정영역은 90micron x 90micron, Z측정영역은 7.5micron입니다.
자기력을 측정할 수 있는 Magnetic Force Microscopy와 표면 전위의 양을 측정하는 Surface Potential Microscopy, 시료의 경도를 측정하는 Nano Indentation Microscopy가 포함되어 있습니다.
패시브 진동차단 시스템(Vibration Isolation Table & Acoustic hood)의 차단 수준은 수직 1.0Hz(5Hz 80~90%), 수평 1.2Hz(10Hz 90~99%)이며, 차폐수준은 0.5Å RMS vertical(Z) dimension in 80dB white noise environment 입니다.