Hitachi
FT100A
5년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
2015.03.10.
₩103,675,089
기관의뢰
고정형
건별
₩50,000
- 형광 X-ray를 이용한 금속 시편의 도금 두께를 정밀하게 측정
- 단층 및 다층 도금 층에 대한 분석이 가능 하여 multi-layer 도금 제품 분석
- 합금 원소일 경우 성분과 두께 동시 분석
- 원소의 성분 분석
1. 본 시스템은 X-ray 형광 분석 방법을 통해 분석.
2.5층까지의 두께측정과 동시적으로 Al(13)부터U(92)까지의 원소 분석을 수행 가능
3. 유럽연합의 WEEE 와 RoHS 규약과 양립하고 플라스틱의 Cb와 Pb의 그러한 유해중금속의 수ppm의 낮은 검출이 가능함
4. 본 시스템은 테이블의 움직임동안 충격을 방지하기 위한 충돌 방지
1. 도금층의 두께 측정 및 층별 구성 성분 동시 분석
2. X-ray Tube (X-선 발생장치) : W, micro focus, 50kV, 1mA
3. 검출기 : proportional counter 비례계수관 (MCA 채널수 : 2048)
4. 측정 원소 범위 : Al(13)~U(92), 최대 5층 두께 분석
5. Laser Focus, Auto Focus, Multi Focus, 자동초점 & 다 초점 기능
6. 광역 관찰 기능, 충돌 방지 기능, CCD camera