보유장비현황
- 보유장비현황
- 온도/습도/가스 분위기 조절 그래핀 전기전도도 및 표면 분석 시스템
- Scanning probe microscopy
- i-Tube No. 1903-A-0073
- NTIS No NFEC-2019-04-255377
- 설치기관 한국전자기술연구원
- 주소 경기도 성남시 분당구 새나리로 25
- 담당자 양우석 (T.031-789-7256)
- 매뉴얼
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예약가능여부(장비 예약은 Zeus 시스템에서 회원가입후 예약가능)
장비정보
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제작사
동일시마즈
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모델 명
SPM-9700HT
내용연수9년
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구분
주장비
용도분석
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표준 분류
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경
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취득일
2019.03.22.
취득금액₩183,150,000
- 인증정보
- 기능
- 장비 상세설명
장비 사용법
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사용형태
기관의뢰
설치형태고정형
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사용료 형태
시간별
장비 사용료₩60,000
장비설명
시료표면을 작은 프로브 (탐침)로 주사하여 시료의 3차원 형상이나 국소적 물성을 고배율로 관찰하는 현미경
시료 표면전위, 용액중 시료 분석, 자기력 관찰 등 다양한 측정이 가능하며 2D material 및 나노박막의 표면 관찰 가능함.
장비 구성 및 성능
1. Environment controlled chamber
2. SPM- Contact AFM/LFM/Resonant Mode/Phase Imaging/Force Modulation/MFM/EFM/Adhesion Force Imaging
Magnetic Force (MFM), Surface Potential (KFM) Current Corrected images, Height (topographic) image, Deflection image, Current image