ZIESS
SUPRA 35
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2005.01.01.
₩508,000,000
기관의뢰
고정형
건별
₩50,000
전계방출형 전자총에서 가속된 전자가 시료의 표면에 조사될 때 발생되는 2차 전자 (secondary electron)에 의해 시료의 미세영상을 확대하여 관찰할 수 있으며, 후방 산란된 전자 (back scattered electron)의 전하량 차이에 의해 조성원소 중 질량이 큰 원소와 작은 원소의 분포 (composition)을 알 수 있는 고해상도 전자현미경
- Resolution: 1.0 nm at 20 kV at WD = 2 mm
1.3 nm at 15 kV at WD = 2 mm
1.5 nm at 10 kV at WD = 2 mm
5.0 nm at 200 V at WD = 2 mm
- Magnification Range: 12 - 900,000x
- Acceleration Voltage Range: 0.1 - 30 kV
- Probe Current Range : 4pA-10nA, 20nA with optional High
Current / Depth of Field module.
Stability : Better than 0.2 %/h.