원료산업지원센터

○ X선을 시료에 조사하여 2차적으로 발생하는 특성 X선을 이용하여 원소의 정성정량 분석
- 비파괴적 분석으로 일반적인 재료 평가에 있어 원소 조성 조사를 위한 필수적 분석법로 사용되고 있음
- 세라믹, 철강 및 비철금속, 시멘트, 지질, 폴리머, 박막, 석유화학 등 각종 원료의 다양한 시료 및 제품에 적용
- 원소별 분석 스펙트럼을 통한 미지 시료의 정성 및 정량 분석
- 간단한 시료 전처리 및 반복 측정을 통한 재현성과 정밀도 검증
- 단시간에 시료 전처리가 가능하고 신속한 측정에 용이하며 작동법이 간단
- Boron~Uranium 까지 모든 원소의 분석이 가능하여 공정관리 및 연구개발에 이용
- 일반적인 재료 평가에 있어서 원소의 조성을 조사하기 위한 필수적인 분석법으로 사용
- WDXRF(Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer)는 EDXRF(Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer)보다 Peak 분해능이 우수하고 EDXRF보다 분석결과가 뛰어나 학교와 산업계의 분석 수요 증가 예상
- 박막두께 및 조성분석 (CIGS 등 태양전지 원료), 철강 및 비철재료 합금 분석 (FeSi, FeMo, FeCrMn, FeNb 등), 석유화학 분야 저 농도 황(S) 검출, 화장품 원료 내 중금속(Pb 등) 검출 분석, 액체 시료 내 Cl 및 Fe 정량 분석 (ex. Pickling solution)
- 원재료의 조성이나 금속, 화합물, 복합재료 등의 조성평가에 이용되며, 공정관리, 재료개발, 제조품 검사 등 다양한 분야의 산업현장에서 XRF 분석이 주류를 이루고 있음