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VK-X200K
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 광학현미경
2013-07-12
159,000,000원
원
처음에는 세포 구조를 연구할 목적으로 개발되었지만, 최근 반도체 부품 및 재료의 3차원 미세 구조를 관측하는 데도 많이 이용되고 있다. 시료로부터 대물 렌즈를 거쳐 광검출기에 이르는 빛의 경로상에 바늘 구멍(pinhole)을 설치하여 시료의 특정한 단면을 통과하는 빛(특정 단면의 영상)만을 걸러 낸다. 이 바늘 구멍을 시료의 두께 방향과 평행하게 적당히 이동시켜 입체 영상을 구현한다.
-고분해능 0.5nm 리니어스케일 모듈탑재
-16bit 포도 멀티플라이 탑재
-최대 기록 화소수 2,160만 화소 3CCD 카메라 탑재
-반사율이 다른 대상물을 정확하게 측정할 수 있는 더블 스캔 기능 포함
-자동 상하 설정
-최적의 수광 감도를 자동으로 조정하는 AGG기능을 탑재
-누구나 원버튼으로 사용할 수 있는 AI-Scan기능
-16bit 레이져 컬러 관찰에 의한 입체형상, 표면 형상 해석가능
-콘트라스트 최적화 기능, HDR기능
-면의 막 두께 측정기능
-투명체(필름) 최표면 관찰 기능
-다른 시료의 형상을 평가할 수 있는 프로파일 비교 계측
-해석 업무를 빠르게 처리할 수 있는 템플리 기능
-3D-CAD 데이터 파일로 변환
-최고 속도 120Hz 초고속 스캔 모드를 탑재
-정확한 초점위치를 검출하는 RPD 알고리즘 탑재
필름 제품의 각종 검사에 사용 됨, 필름 원단 표면에 대한 불량(갈라짐현상, 눌림현상등)을 검사 하며, 공정중 발생하는 표면을 분석, 완제품의 표면(불량 부분-깊이, 폭, 길이)을 분석함.
*PET 필름 원단 표면 분석
*공정중 발생하는 불량(표면, 깊이, 길이분석)분석
*완제품 불량분석
*완제품 pattern 형상 분석 및 완성도 규격확인