JEOL
JEM-ARM200F
3년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
2013-04-03
2,400,000,000원
기관의뢰
고정형
시간별
150,000원
고분해능 투과전자현미경은 전자총에서 방출된 전자를 가속하여 시료를 투과한 전자를 이미지화하여
원자단위의 구조를 분석하는 장비임
본 장비는 80~200 kV의 가속전압에서 가동되며, 구면수차보정 (Cs corrector)가 설치되어 있어
80pm의 분해능을 가지는 장비임
본 장비는 투과전자현미경과 Energy dispersive spectroscope (EDS)로 구성되어 있음
주성능
가속전압 : 80, 200 kV
측정모드 : TEM, STEM
분해능 :
- 0.08 nm (STEM @200 kV)
- 0.1 nm (TEM @200 kV)
이차전지 양음극소재의 미세구조 분석 (원자단위 측정 가능)
나노 소재의 결정 구조 해석 및 미세구조 측정
나노 구조체의 이미지 측정
결정 구조를 가지는 소재의 결정 구조 해석
EDS 분석을 통한 화학 조성 분석
가속전압 : 200KV
분해능 : 80pm (@200KV, STEM)
EDS part
이차전지용 전극 소재의 원자 단위의 미세구조 분석 및 화학 조성 분석에 활용
기타 소재이 구조 분석에 활용