정보없음
모델명없음
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2013-03-22
99,550,000원
원
주사전자현미경은 시료에 전자를 충돌시켜 바깥으로 나오는 전자의 양을 재어서 표면의 굴곡을 간접적으로 측정하는 장비로서, 시료에 충돌시킬 전자를 만들어내는 전자총, 자기장을 이용하여 전자를 한점에 모으는 집속 렌즈, 전기장을 이용하여 전자 다발을 옆으로 휘게하는 주사장치, 전자다발을 시료의 한점에 모으기 위한 초점렌즈, 충돌한 전자에 의한 시료에서 튀어나온 전자를 검출하는 장치, 그리고 관찰된 시료의 모양을 모니터에 그리기 위한 컴퓨터로 구성되어 있다.
Probe size:3.0nm(@WD8mm), Acceleration Voltage: 0.5KeV~30KeV, Visual Inspection Source: Electron induced Display (Tungsten Hair Pin Type), Probe Current: Max. ~ 3uA, Magnification: 10X ~1,000,000X, SE Detector: High Sensitivity E-T detector. SE Image Mode & BSE Image mode, Working Distance ~ 57 mm (Z-travel), Vacuum system: High vacuum: Turbo Pump
복합소재의 선진사 및 경쟁사 Sample 형태 및 성분분석, Melt형 난연제 및 Rubber를 첨가하였을 때 충격에 의한 파단면 관찰, 복합소재 개발에서 Coupling agent 및 G/F상용화제를 첨가하였을 때 무기물과 Matrix와의 계면접착형태 관찰 및 성분분석에 사용 할 수 있다.