정보없음
JSM-7001F
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2013-02-05
270,138,100원
원
-나노 사이즈의 LFP, LFMP 양극 소재의 입자 모양 및 표면 특성 관찰하는데 쓰임.
-개발 물질의 입자 크기, 형태 및 표면 거칠기는 소재의 특성을 결정짓는 가장 중요한 인자임
- Cold cathode의 끝에서 포커스가 강한 전자 빔을 주사하여 나노입자 표면을 관찰함.
- 백만배까지 확장 가능
- 전자 에너지의 세기를 측정하여 원소 측정도 가능
- 최대 배율: >백만배
- 전자빔 전압: 20KV
1) 사용 용도
소재의 물리적 특성을 평가하는데 쓰인다.
-입도, 표면 거칠기 평가
-분체의 엉김, 깨짐 분석
2) 수요 예측 및 활용빈도
- 소재당 6포인트 측정 필요
-배율: 2000, 5000, 10000, 50000, 100000배 확대