Fischione Instrument, Inc.
1020PlasmaCleaner
20년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 달리 분류되지 않는 화합물 전처리 분석장비 >
2013-01-31
92,423,080원
원
1.투과전자현미경(TEM : Transmission Electron Microscope) 및 주사전자현미경(SEM : Scanning Electron Microscope)으로
관찰할 각종 편(박막 및 세라믹 구조체 등)의 오염 등 불순물을 세척하는데 사용
2. 전자현미경의 샘플홀더 세척시 사용
1. Plasma System
- High frequency(13.56MHz) oscillating field system coupled to a quartz and stainless steel plasma chamber
- Compatible with TEM specimen holders of FEI/Philips
2. Vacuum System
- Oil-free turbo-molecular drag pump backed by a multistage diaphragm pump
- Ultimate cacuum of 1x10-7mbar chamber
3. Gas : 25% Oxygen and 75% Argon
1. 대상 : 결과활용기관,협력업체 및 연구센터 내 모든 연구원, 대학원생, 학부생
2. 용도 : 투과전자현미경 실험용
3. 상세 : TEM용 시편은 가공공정에서 발생하기 쉬운 오염물질이나 장시간 실험시 발생하기 쉬운 오염물질 흡착으로 실험을 못하는 경우가 많다. 이러한 오염물질을 제거하는 플라즈마 클리너 사용으로 원활한 실험수행을 가능케 한다.
■ Plasma Clener Model 1020
■ Simultaneously cleans pecimen and specimen holder
■ No change to the specimen’s elemental composition or structural characteristics
■ Oil-free vacuum system
■ Easy-to-use front panel controls
■ Readily accepts side-entry specimen holders for all commercial TEMs and STEMs
■ For SEM as well as other surface science techniques
■ Handy for evacuating specimen holder Vacuum Storage Containers