정보없음
SPM-9700
주장비
시험
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2013-03-28
45,000,000원
원
다양한 방식의 탐침(probe)으로 시료의 표면을 스캔하여 원자 지름의 수십 분의 1인 0.01나노미터(nm) 수준까지 측정할 수 있는 제3세대 현미경. 광학 현미경이 최고 수천 배, 전자 현미경이 수십만 배의 배율인 데 비해 원자 현미경은 수천만 배급이며, 3차원의 이미지를 얻을 수 있을 뿐만 아니라 표면의 점탄성, 경도 등의 특성을 측정할 수 있고, 탐침을 이용해 시료를 직접 조작하여 나노미터의 물체를 제조하는 등 나노 산업의 핵심 장치이다. 원자 현미경은 양자 역학적 터널링 효과를 이용한 STM (Scanning Tunneling Microscope)과 원자 간에 작용하는 힘을 이용한 AFM(Atomic Force Microscope)으로 구분되며, AFM은 다시 접촉식과 비접촉식으로 구분된다.
Sample Holder : 10pcs/set
Si3N4 Cantilever(34chip)
Contact mode
Dynamic mode
Phase image mode
Force modulation mode
3차원 형상을 측정 기능을 수행하는 장치로써 탐침 끝의 원자와 시료 표면의 원자들 사이에 작용하는 척력과 Vander waals 인력을 이용하며,작동에 사용되는 힘의 종류에 따라 접촉모드와 비접척모드로 나누어진다.
표면의 굴곡을 알아볼 수있으며 빔의 평향각도에 따라 측정이 됨.