Riscure
EM-FI
5년
주장비
시험
전기·전자장비 > 분석장비 > 달리 분류되지 않는 분석장비
2014-12-01
91,050,000원
원
○ IC칩에 전자기 형태의 신호 오류를 강제 주입하여 IC칩의 동작 오류, 암호 모듈에 대한 DFA(Differential Fault Analysis) 취약성, 보안기능에 대한 Perturbation 취약성 등의 시험
- 주장비의 기능을 보완하는 장비
- 다음 표준을 만족함: ISO/IEC 7816-1 , 7816-3, 14443-1, 14443-2, 14443-3, 14443-4, 10373-6 . CD ISO. 26262, road vehicles-functional safety, 2011
- 부채널 분석 중 전자기를 이용한 오류주입이 개발되면서 최근 전자기 오류주입에 대한 취약성이 발견, 정보보호제품에 대한 평가인 CC 기준에 따라 공개된 취약성에 대한 시험을 위한 장비임
○ No de-packing required
○ No detection by light sensors
○ Generating Magnetic transient pulse
○ 4mm & 1.5mm probe tips
○ Positive & Negative polarity probes tips
○ Maximum switch frequency: 1Mhz
○ Predictable propagation delay: 50ns/51ns
○ 90Mhz low pass filter with ’pulse amplitude’ set at 0.33V corresponding to 10% power up
○ Voltage over measurement coil with pulse amplitude set at 0.33V corresponding to minimal power
○ Support the strength for EM Glitch by setting the voltage on pulsr amplitude-1 input
○ Input power: 24V / Input pulse amplitude: 3.3V max /
○ Input digital glitch: 3.3V max / Output current monitor: -40A/V
○ Maximum voltage over coil: 450V(+/- 10%)
○ Maximum internal current: 64A
○ EM Pulse power control: 5~100%
○ Pulse width at digital glitch input for full power: 50ns
○ Operating temperature: 0~70 C
○ Max current through coil of probe tip: 1.5mm tip-56A(+/-10%) / 4mm tip-48A(+/-10%)