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장비정보

제작사
Shimadzu
모델 명
EDX-LE

내용연수
10년
구분
주장비

용도
분석
표준 분류
화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2026-09-30

취득금액
40,700,000원
인증정보
없음
기능
시료에 X선을 쬐었을 때 발생하는 원소별 고유 형광 X선의 에너지와 세기를 측정해 Al부터 U까지의 무기원소를 정성·정량 분석함
전처리 없이 고체·액체·분말 시료를 그대로 비파괴로 측정할 수 있으며, 시료 관찰 카메라와 조사 면적 선택 기능으로 부품의 특정 부위까지 신속하게 분석할 수 있음
고분자, 금속, 전자부품, 도료 등 제품·소재 중 유해 중금속(Pb, Cd, Hg, Cr)과 브롬(Br) 등 유해 원소의 스크리닝 분석에 활용함
장비 상세설명
- 각종 제품·소재 중 무기원소를 비파괴로 신속하게 분석해 유해 원소 스크리닝, 원소 조성 확인, 습식 정밀분석 대상 시료 선별을 맡는 무기분석 장비임

-시료에 X선을 쬐어 발생한 원소별 고유 형광 X선을 반도체 검출기로 측정하고, 에너지로 원소를 확인하고 세기로 함량을 정량함

-측정 원소 ₁₃Al–₉₂U, Rh 타깃 X선관 5–50 kV·최대 1,000 µA, 조사 면적 1·3·5·10 mm φ, 최대 시료 크기 W 370 × D 320 × H 155 mm, 측정부터 결과까지 약 5분 내외의 성능을 가짐

-1차 필터 5종 자동 교환, 시료 관찰 카메라, 기동 시 에너지·정량 자동 점검, 검량선 자동 선택, FP·BG 내부표준 보정, 적합·부적합·경계 자동 판정 기능을 갖추고, 옵션 키트로 Cl·Sb 스크리닝까지 활용 범위를 넓힐 수 있음

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
고정형
사용료 형태
건별

장비 사용료
[EA] 35,000원

장비설명

본 장비는 제품·소재 중 무기원소의 비파괴 정성·정량 분석을 위한 에너지 분산형 형광 X선 분광분석기(ED-XRF)로서, 시료에 X선을 쬐었을 때 발생하는 원소별 고유 형광 X선의 에너지와 세기를 측정해 Al부터 U까지의 원소를 신속하게 분석하는 것을 목적으로 구축된 장비임. 전처리 없이 고체·액체·분말 시료를 그대로 측정할 수 있고, 대형 시료실과 시료 관찰 카메라, 자동 교정·판정 기능을 통해 완제품과 부품 단위 시료까지 약 5분 내외의 빠른 스크리닝 분석 환경을 제공함. 기업 대상 제품·소재 중 유해 중금속(Pb, Cd, Hg, Cr)과 브롬(Br) 등 유해 원소 스크리닝, 원소 조성 확인, 이물 분석을 지원하는 공용 분석 장비로 활용 가능함

장비 구성 및 성능

-Rh 타깃 X선관(5–50 kV, 최대 1,000 µA, 공랭식) 기반 X선 발생부 구성을 통한 안정적인 시료 여기 환경 구성

-전자 냉각 방식 반도체 검출기 적용을 통한 액체질소 없이 운영 가능한 저비용 측정 환경 구성

-Al부터 U까지(₁₃Al–₉₂U) 측정 원소 범위 구성을 통한 폭넓은 무기원소 동시 분석 지원

-1차 필터 5종(개방 포함 6단계) 자동 교환 구조를 통한 원소별 최적 측정 조건 설정 및 검출 감도 향상

-1, 3, 5, 10 mm φ 조사 면적 선택 구조를 통한 미소 부위부터 넓은 면적까지 측정 위치별 분석 지원

-최대 W 370 × D 320 × H 155 mm 대형 시료실 구성을 통한 완제품·부품 단위 시료의 비파괴 직접 측정 환경 구성

-시료 관찰 카메라 적용을 통한 측정 위치 확인 및 이물·복합 부품 시료의 부위별 분석 지원

-기동 15분 후 측정 가능, 측정부터 결과까지 약 1분 내외의 신속 분석 구조를 통한 대량 시료 처리 환경 구성

-기동 시 에너지·정량 자동 점검, 검량선 자동 선택, 목표 원소 판정 시 측정 자동 종료 기능을 통한 측정 효율과 결과 일관성 확보

-관리 기준값 대비 적합·부적합·경계(Gray zone) 자동 판정 기능을 통한 스크리닝 결과의 신속한 판단 지원

-1차 필터: 5종에 개방 포함 6단계, 자동 교환

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