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없음

1. 화학물질 및 소재에 적외선을 조사하여 분자 진동에 따른 적외선 흡수 스펙트럼을 측정하고, 특성 흡수 피크를 기반으로 시료의 작용기, 화학결합 및 화학적 구조 변화를 분석하는 장비
2. 내화학성 분석 프로브를 이용하여 저온·고온 및 가압 조건의 화학반응 환경에서 적외선 스펙트럼을 측정하고, 외부 자동화 시스템과 연동하여 반응물의 변화, 생성물 형성 및 화학반응 진행 과정을 자동으로 측정·분석하는 장비

본 장비는 화학물질 및 소재에 적외선을 조사하고 분자의 진동에 따라 특정 파수의 적외선이 선택적으로 흡수되는 현상을 측정하여 물질의 작용기, 화학결합 및 화학적 구조 변화를 분석하는 푸리에 변환 적외선 분광분석기(Fourier Transform Infrared Spectrometer, FT-IR)이다. 측정된 간섭신호를 푸리에 변환하여 적외선 스펙트럼을 획득하고, 스펙트럼에 나타나는 특성 흡수 피크의 위치와 세기 변화를 분석함으로써 시료의 화학적 특성을 확인할 수 있다.

본 장비는 600~8,000 cm⁻¹ 이상의 스펙트럼 영역을 측정할 수 있으며, 1~64 cm⁻¹ 범위의 분해능 설정과 DTGS 또는 동등 이상의 성능을 갖는 검출기를 이용하여 적외선 스펙트럼을 획득한다. 컴퓨터 기반으로 측정조건 설정, 장비 제어, 데이터 수집, 결과 저장 및 스펙트럼 분석을 수행할 수 있으며, 측정된 데이터는 외부 분석 시스템에서 활용할 수 있도록 출력 및 연동이 가능하다.

특히 내화학성 재질의 분석 프로브를 적용하여 화학반응 환경에서 직접 스펙트럼을 측정할 수 있도록 구성되어 있다. 분석 프로브는 –150°C에서 +140°C 이상의 온도 범위와 최소 10 bar 이상의 압력 조건에서 사용할 수 있어 다양한 온도 및 압력 조건에서 진행되는 화학반응의 변화를 분석할 수 있다. 이를 통해 별도의 최종 시료 분석뿐만 아니라 반응 환경에서 시간에 따른 스펙트럼 변화를 측정하여 반응물의 소모, 생성물의 형성 및 반응 진행 상태를 분석하는 데 활용할 수 있다.

또한 자동 시료 로딩·언로딩, 측정 완료 후 폐시료의 분리 또는 처리 및 외부 자동화 시스템과의 연동 기능을 지원하여 반복적인 시료 측정과 데이터 수집을 자동화할 수 있다. 이를 통해 화학·소재 연구에서 다수의 실험조건에 따른 반응 결과를 자동으로 측정하고, 획득된 스펙트럼 데이터를 외부 분석 시스템과 연계하여 활용할 수 있는 자동화 기반 FT-IR 분석 시스템으로 운용할 수 있다.