Applied Spectra, Inc.
J200 TANDEM
10년
주장비
분석
화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > 레이저유도플라즈마분광기
공동활용서비스
2026-07-14
176,300,000원
없음
1) 화학 전처리 과정 없이 고체 샘플 표면에 고에너지 레이저를 조사하여 미세 플라즈마를 발생시키고, 원소 고유의 발광 파장을 수집하여 성분 종류 및 함량을 실시간으로 분석
2) 향후 연동될 ICP-MS 장치로 고체 에어로졸 시료를 미세 기화시켜 캐리어 가스와 함께 안정적으로 이송하는 레이저 어블레이션 가스 혼합 및 흐름 제어 기능 수행
3) 레이저 스폿 크기 가변 제어와 고밀도 멀티 펄스 주사를 통해 고체 재료 표면의 특정 미세 위치 분석 및 수직 깊이별 성분 변화 추적
1) 고안정성 레이저 시스템은 고온 세라믹 및 금속 시료의 파괴 분석을 위해 266 nm 파장의 고해상 나노초 레이저를 탑재하였으며, 자가 DI Water 냉각 기능 및 20Hz 반복률 제어로 높은 스펙트럼 안정성을 유지한다.
2) 광대역 고감도 분광 검출부는 6채널 광대역 검출기(ES6)가 결합되어 최소 190 nm 자외선 영역부터 최대 1040 nm 근적외선 영역까지 원자 방출 스펙트럼을 누수 없이 동시에 정밀 검출한다.
3) 고정밀 자동 구동 챔버 및 스테이지는 0.2㎛ 분해능의 정밀 XY 스테이지와 자동 초점 Z축 제어로 균일한 샘플 위치 지정을 보장하며, 전용 샘플 챔버와 가스 이송 다이어프램 매니폴드가 안정적인 운용 환경을 제공한다.
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 150,000원
1) 무전처리 다원소 동시 분석 장비는 가혹한 산 처리 등 전처리 과정이 수반되는 기존 화학 습식 분석법과 달리, 건식 레이저 조사 기술을 도입하여 샘플 고유의 성상 훼손을 최소화하면서 대기압 환경에서 전 원소를 초고속으로 검출해내는 첨단 분석 솔루션이다.
2) 사용자 친화적 및 통합 확장성 설계는 직관적인 GUI 기반 소프트웨어를 제공하여 실시간 샘플 카메라 화면상에서 원하는 격자 및 라인 패턴을 직접 그려 분석할 수 있으며, 향후 타 분석 장비(ICP-MS)와의 즉각적인 결합 및 신호 동기화 전용 제어 회로가 사전에 구축되어 있다.
1) 광학 및 레이저 유닛: 266 nm Fourth Harmonic Nd:YAG 레이저, 670 nm 적색 보조 레이저, 1280x1024 고해상도 CMOS 비전 카메라
2) 검출 시스템: 190~1040 nm 파장 범위 검출용 6채널 광대역 CCD 스펙트로미터(ES6 Detector)
3) 스테이지 및 챔버: 0.2 ㎛ 분해능 XY축 스테이지, 1 ㎛ 분해능 Z축 스테이지, 다기능 샘플 챔버
4) 가스 공급 장치: Ar 및 He 가스 공급 제어용 독립형 디지털 질량유량제어기(MFC)
5) 컴퓨터 워크스테이션: Intel i7 PC, 32GB RAM, 1.5TB 저장 장치, 24인치 LCD 모니터, ClarityNeXt 분석 소프트웨어