dSPACE
dSPACE modular system
10년
주장비
시험
전기/전자장비 > 측정시험장비 > 달리 분류되지 않는 측정시험장비
공동활용서비스
2026-06-05
264,301,200원
없음
ㅇ Head Lights 반도체 부품 검증을 위해 테스트 벤치 기반 HIL Simulator와 연동하여 실시간 교통상황 및 운전자 패턴에 대한 Head Lights 부품 기능 검증 및 각종 부품 사양 차이에 따른 성능 평가
- HIL Simulator의 차량 동역학 모델과 연동한 Head Lights 기능 및 성능 평가
- Head Lights 테스트를 위한 테스트 벤치 연동
- 연동 전장 장비와의 통합 테스트 수행
차량 Lights 모듈용 Test Bench는 차량용 Head Lights에 적용되는 반도체 단품, LED 구동 모듈 및 조명 시스템의 기능·성능 검증을 위한 시험평가 장비이다. 실제 차량 장착 전 단계에서 전원, 부하, 온도, 입출력 신호 및 차량 통신 조건을 모사하여 정상 동작, 출력 응답, 통신 연동성, 이상상태 대응 특성을 확인한다.
장비는 해드라이트 Test Bench, Temp. Simulation Unit, LED Output Unit, Internal Terminal로 구성된다. 해드라이트 Test Bench는 전원공급부, 냉각부, 비상정지장치, I/O Connector, Power Connector를 포함하여 시험대상 모듈의 전원 인가 및 신호 연결을 지원한다. CAN, LIN, Ethernet, Automotive Ethernet 통신채널과 DAC, ADC, Digital I/O, Resistance Output을 제공하여 차량 전장 환경과 유사한 조건을 구성할 수 있다.
Temp. Simulation Unit은 16채널 온도 모사 보드를 통해 20Ω~1MΩ 범위의 저항값을 18bit 분해능으로 인가하여 온도센서 입력 변화에 따른 제어로직, 보호기능 및 진단기능을 평가한다. LED Output Unit은 48채널 LED Load Board를 통해 채널당 2.5A, 최대 6V 조건의 LED 부하를 구성하여 출력 안정성과 부하 구동성능을 검증한다. Internal Terminal은 100채널 내부 단자와 HIL I/O Board 인터페이스를 제공한다.
본 장비는 HIL Simulator의 차량 동역학 모델과 연동하여 주행상황, 운전자 조작 패턴, 전원 변동, 통신 조건, 온도 조건, LED 부하 조건을 반복 인가할 수 있다. 이를 통해 Head Lights 관련 반도체 및 전장모듈의 단품 검증, 모듈 성능평가, 시스템 통합시험, 기능안전 검증 및 Risk 평가를 수행하며, 실차 시험 전 기능 결함과 고장 반응을 조기에 확인하는 데 활용된다.
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 20,000원
차량 Lights 모듈용 Test Bench는 차량용 전조등에 적용되는 반도체 단품, LED 구동 모듈 및 조명 시스템의 기능·성능 검증을 위한 시험평가 장비이다. 실제 차량 장착 전 단계에서 전원, 부하, 온도, 입출력 신호 및 차량 통신 조건을 모사하여 전조등 모듈의 정상 동작, 출력 응답, 통신 연동성, 보호기능, 진단기능 및 이상상태 대응 특성을 확인하는 데 활용된다.
본 장비는 해드라이트 시험 벤치, 온도 모사 장치, LED 출력 부하 장치, 내부 단자부로 구성된다. 시험 벤치는 전원공급부, 고전압 전원공급부, 냉각팬, 비상정지장치, 입출력 커넥터 및 전원 커넥터를 포함하며, 시험대상 모듈의 전원 인가, 신호 연결, 냉각 및 안전 운용을 지원한다. 통신 및 신호 인터페이스는 CAN, LIN, 이더넷, 차량용 이더넷과 아날로그 출력, 아날로그 입력, 디지털 입력, 디지털 출력, 저항 출력 채널로 구성되어 차량 전장 환경과 유사한 시험조건을 구현할 수 있다.
온도 모사 장치는 16채널 저항 모사 기능을 통해 온도센서 입력 조건을 재현하고, 온도 변화에 따른 전조등 제어로직, 보호동작 및 진단기능을 평가한다. LED 출력 부하 장치는 48채널 LED 부하를 제공하여 LED 구동전류, 출력전압, 채널별 부하 응답 및 출력 안정성을 검증한다. 내부 단자부는 100채널 신호 연결을 지원하여 HIL 입출력 보드와 시험대상 장치 간 배선 구성, 계측, 시험조건 변경을 용이하게 한다.
본 장비는 하드웨어-인-더-루프 시뮬레이터와 연동하여 차량 동역학 모델, 주행상황, 운전자 조작 패턴, 전원 변동, 온도 변화 및 부하 조건을 반복적으로 인가할 수 있다. 이를 통해 차량용 전조등 반도체 및 전장모듈의 단품 검증, 모듈 성능평가, 시스템 통합시험, 기능안전 검증 및 위험도 평가를 수행하며, 실차 시험 전 기능 결함과 고장 반응을 조기에 확인할 수 있다.
□ 해드라이트 Test Bench
○ Load Carrier 1 SET
- Size: W900*D800*H1000
- Emergency Stop Button
- Head light Power Supply 2ea
- HV Power Supply 2ea
- Cooling Unit 6 Fans (with cooling fan mount)
· NCT, 절곡, 판금 가공
· 함체 분체도장 및 열처리
· AL Panel 10T 및 슬라이딩 유닛 가공
· Base Plate Tapping 및 커넥터 Block 가공
· 강화 유리 및 Door Lock
○ 일반 IO Connectors for below IOs
- DAC: 7ch
- ADC: 20ch
- DigIn: 30ch
- DigOut: 28ch
- ResOut: 12ch
- BUS: CAN 2ch /LIN 2ch / ETH 4ch / AETH 4ch
- Power Switch: 6x PowerSwitch
○ Power Connectors
□ Temp. Simulation Unit
○ 16ch Temperature Simulation Board
○ Resistance range: 20 Ohm – 1 MOhm
○ Power dissipation: 250mW
○ Resolution: 18bit
□ LED Output Unit
○ LED Output Load Unit
- 48ch LED Load Board
○ Current per cannel: 2.5A
○ Voltage Range: up to 6V
○ System Power 1 SET
- 5V, 24V (DC-DC)
□ Internal Terminal
○ Internal Terminal 100 ch
○ Interface: HIL IO Boards
○ Continuos Current: 24A
○ Pitch: 5.2mm