㈜쓰리에치코퍼레이션
BW-LPD-DAQ-4000
10년
주장비
시험
기계가공/시험장비 > 반도체장비 > 칩검사기
공동활용서비스
2026-04-02
106,511,040원
없음
- Particle Impact Noise Detector(입자충돌노이즈검출시험기)는 MIL-STD-883, MIL-STD-750, MIL-STD-202에서 요구하는 기준(요건)을 충족
- 충격테스트 고정 장치는 진동 여부와 관계없이 테스트충격을 부가할 수 있어야하며, 충격의 방향은 중력 반대방향으로 작용.
시스템반도체 내부의 성능 및 신뢰성에 영향을 줄 수 있는 미세입자(불순물, 파티클 등)의 존재 유/무를 확인하기 위한 시험을 수행하는 시험기로 X-ray (방사선 검사)가 불가한 PKG 디바이스 Cavity 등의 시료에 특정 파형의 충격을 인가하여 시험품 내 미세입자 검출을 수행하는 시험장비임
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 100,000원
시스템반도체 내부의 성능 및 신뢰성에 영향을 줄 수 있는 미세입자(불순물, 파티클 등)의 존재 유/무를 확인하기 위한 시험을 수행하는 시험기로 X-ray (방사선 검사)가 불가한 PKG 디바이스 Cavity 등의 시료에 특정 파형의 충격을 인가하여 시험품 내 미세입자 검출을 수행하는 시험장비임
- Particle Impact Noise Detector(입자충돌노이즈검출시험기)는 MIL-STD-883, MIL-STD-750, MIL-STD-202에서 요구하는 기준(요건)을 충족
- 충격테스트 고정 장치는 진동 여부와 관계없이 테스트충격을 부가할 수 있어야하며, 충격의 방향은 중력 반대방향으로 작용.
1) 진동 사양
- 주파수 : 27 Hz ~ 265 Hz (사인파 Sweep 주파수 구현 가능)
- 가속도 : 0 ~ 20 G (Peak)
- 가진기 : 100 FORCE LBS., 0.75 IN. STROKE, 75 IN.PER/SEC VELOCITY
- AMPLIFIER : 최소 200 Watts 수준
- D.U.T 중량 : 200 GRAMS PRACTICAL LIMIT @ 20G
2) 충격 사양
- 지속시간 : 100 micro-sec 미만의 HALF SINE
- 진폭(일반적) : 1,000 ± 200 (G)
- 구동 방식 : 자동 또는 수동, 동시 진동 또는 비동시 진동 적용가능
- 충격 축 : 진동 방향과 동일 방향
3) 검출
- 초음파 탐촉자(Ultrasonic Transducer) 민감도 : -77.5 ± 3 (dB), 기준 1 VOLT per μBAR @ 155 ± 5 (KHz)
- 증폭기(Amplifier)
: 60 ± 2 (dB) @ 155 ± 5 (KHz) With Peak 잡음 1 mV 미만
- 검출 임계값 (Threshold Detector) : ADJUSTABLE 0 – 무한대