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장비정보

제작사
Bruker
모델 명
Icon

내용연수
10년
구분
주장비

용도
계측
표준 분류
광학/전자영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2025-08-18

취득금액
384,369,340원
인증정보
없음
기능
- X-Y scan range 90um x 90um, noise <0.15nm
- Z range 10um, noise <50pm
- Vertical noise floor <30pm
- Sample size <210mm diameter, <15mm thick
- 라만 현미경과 결합사용 가능(라만-원자힘현미경)
장비 상세설명
- 수분에 민감한 소재(황화물 등) 분석
- 대기 비개방형 시스템 구축
- 단순 장비사용뿐만 아니라 현장에서 샘플링까지 가능한 환경 구축 필요
- Nano indetation 및 표면 강성 측정
- 표면 거칠기 분석
- 이차전지 양극 계면 분석
- 고체전해질 내 이온 이동 및 충전/방전시 전해질-양극 계면전도 메커니즘 연구
- 수분민감성 샘플(전극, 소재) 구조 분석

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
고정형
사용료 형태
일별

장비 사용료
[Hr] 60,000원

장비설명

주요 사양
○ X-Y scan range 90um x 90um, noise <0.15nm
○ Z range 10um, noise <50pm
○ Vertical noise floor <30pm
○ Sample size <210mm diameter, <15mm thick
○ 라만 현미경과 결합하여 ‘라만-원자힘 현미경’ 구축하여 사용

장비 구성 및 성능

- Tip-scanning for 210mm diameter sample Stage
- Imaging noise level : 0.3 Å RMS
- The SPM has a Software-controlled Motorized XY stage with possibility to accept samples 210mm diameter and 15mm thick.
- ADC for STM & PFM performance : 16bit 10MHz
- Highest resolution up to 5,012 x 5,012 pixels
- Lift Mode & Dark-Lift Mode separately measure topography and another selected property (MFM, EFM and KPFM)
- Scan size X,Y and Z : 90 μm X 90 μm X 10 μm
- TrackScan optical lever position detection

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