Daipla Wintes
SAICAS EN-EX-W
10년
주장비
계측
물리적측정장비 > 표면특성측정장비 > 달리 분류되지 않는 표면특성측정장비
공동활용서비스
2025-03-17
564,566,000원
없음
○ 전극 깊이 별 바인더 분포 및 편재 평가
○전극 바인더 종류에 따른 접착력 평가
○ 집전박 과 전극 코팅층 사이의 부착력 측정
○ 분리막의 접착특성 평가
적층박막, 접착 재료, 도금층, 페인트 코팅 등 코팅된 박막의 계면에서의 박리강도(kN/m) 및 코팅층의 전단강도(MPa)를 정량적으로 측정.
이차전지의 전극 계면의 접착력 및 전극층 내부의 전단강도, 깊이별 바인더 분포 및 불균일 평가가 가능합니다. 또한, 소재.부품의 소형화 경량화를 위한 박막재료에서 기능성 향상이나 기능 발현기구의 상세히 해석을 위해 3차원적으로 나노미터 수준의 분해능을 지닌 해석기법을 제공하여 막 표면과 내부의 화학적 조성차이, 첨가제의 확산정도 깊이방향 분포, 표면처리 효과의 깊이방향 의존성, 내후성 시험 후 깊이별 경화도 평가 등 깊이 프로파일 분석(Depth Profile Analysis)을 지원함.
분석영역의 확보에 한계가 있는 마이크로/서브마이크로 영역의 박막시료에 대한 표면 및 단면분석용 Micro-FTIR, Raman Microscope, TOF-SIMS, Auger, SEM-EDS 등과 같은 표면분석 및 화학 분석을 지원하는 마이크로 샘플링 및 단면 확대노출을 위한 시료전처리도 지원 함.
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 50,000원
코팅두께(1~1000 um)의 박막시료의 표면에서 계면까지 마이크로/나노단위의 미세움직임으로 2차원/3차원 경사 절삭을 수행하면서 검출된 힘과 변위를 측정하여 계면에서 박리 강도와 코팅층 전단 강도를 정량적으로 평가하는 장치
▣ 시료 스테이지
- 시료대 이동 : 스트로크 ± 12.5mm 이상, 최소단위 : 10 um / Scale
▣ 절삭 블레이드 장치
- 수평 속도 : 0.04 ~ 50 um/sec or wider, 최소 속도 = 40 nm/s (resolution)
- 수평 속도 : 0.004 ~ 5 um/sec or wider, 최소 속도 = 4 nm/s (resolution)
- 기계적 단면 확대 배율 : x 700
- 수평 부하 감지기 : ~20N, d.p. 0.001N
- 수직 부하 감지기 : ~20N, d.p. 0.001N
- 최대 측정거리 : 수평 = 20mm, 수직 = 1mm
▣ 고배율 정면 카메라 : 정면관찰 및 Blade 수평도 조정, 줌 렌즈형 (x10~1300)
▣ 자유각도 관찰 카메라 : 시료 상태관찰 및 절삭 모니터링, 동영상 촬영, 줌 렌즈형 (x10~1300)
▣ 시스템 제어 및 데이터 처리 장치
- 접착원리 및 절삭원리에 기반한 수식계산 및 컴퓨터 처리
- 장치제어 및 데이터 처리 시스템