Jeol
JEM-2100F
10년
부대장비(부가장치) (주장비:전계방출형투과전자현미경(FE-TEM))
분석
광학/전자영상장비 > 이미지분석장비 > 달리 분류되지 않는 이미지분석장비
공동활용서비스
2026-02-27
210,193,080원
없음
1) 나노 scale 미세구조 관찰로 소재 내부 결함 및 품질 정밀 평가
2) 소재 및 부품의 미세구조와 결정구조 및 손상 메커니즘 분석
3) 모터 소재 및 부품의 밀도 차이, 도금·코팅 분석, 초미세 구조 분석을 통해 물질 특성 발현 메커니즘을 규명
4) 구축하고자 하는 장비는 기구축 장비인 투과전자현미경(TEM)과 결합하여 주요 부품의 미세구조 분석 및 초정밀 나노영역에서의 소재의 특성을 연구하기 위해 도입하고자 함 (구매품인 ‘모터 소재 부품 미세구조 영상분석’ 장치는 기구축된 현미경과 호환)
5) 미래 자동차 및 항공운송 시스템용 경량 모터 소재 및 부품의 특성 향상을 위한 연구개발에 활용될 것으로 기대되며, 소재의 기계적 특성을 규명하고, 이를 통해 시제품 품질 관리 및 소재 신뢰성 향상에 기여할 것으로 판단됨
초 고배율과 고해상도, 고 스피드가 요구되는 Image 관찰에 이용되는 Microstructure 탐색 및 영상처리 장치로서 TEM에 장착되어 사용되며 Material과 Bio science 분야에서 TEM 유저들을 위한 Advanced된 장비로, 기존 사용중인 Film 현상 (암실작업필요)을 거치지 않고 TEM image를 얻음 (Carmera Upgrade)
- 장비 주요 기능 : 4D STEM mode BF (DF), Diffraction pattern, HREM (FFT), in-situ 및 TEM BF (DF) image (x5,000~x8,000,000
- 주장비 : 9 Megapixel(3,072 × 3,072) CMOS type detector for TEM (1 set) and Workstation (1 set)
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 300,000원
투과전자현미경은 에너지가 매우 큰 전자빔을 이용하여 재료의 내부를 수백만 배로 확대하여 재료를 구성하는 입자들의 형상과 크기, 재료를 구성하는 원소와 화합물의 종류 및 상대적인 양, 재료 내 원자들의 배열상태를 분석하는 최첨단 장비이며, 미세구조와 물성과의 연관성 규명, 재료물성과 조성과의 관계 규명 및 재료고유의 물성과 원자배열과의 관계를 규명하여 새로운 물질을 개발하는데 있어서 매우 유용한 장비이다.
이를 위한 부속장치는 CCD carmera를 이용하여 아래와같은 분석을 진행할수 있음
- 미세구조와 물성과의 연관성 및 재료물성과 조성과의 관계 규명
- 격자결함과 재료물성과의 관계 규명
- 이상계면에서의 편석과 원자배열이 재료물성에 미치는 영향 검토
- 나노영역에 대한 각종 특성 분석
- 첨단소재 개발에 있어서 물성출현 기구 규명 및 응용
- CMOS type camera detector applicable for JEOL JEM-2100F
- Usable application : 4D STEM, EM, Diffraction pattern, HREM, in-situ microscopy
- TEM operating voltage : up to 200kV
- Sensor size : 3072 pixel × 3072 pixel
- Pixel size(um) : 9
- Full resolution frame rate (fps) : 15
- Image display (fps) : 15
- Sensor active size(mm) : 27.8 x 27.8
- Recording modes : Image
- Image formats : 1:1 (3k, 1.5k)
- Dynamic range : >16-bit with frame accumulation
- Detective Quantum Efficiency(DQE) at 0.5 Nyquist, 200kV(%) : ≥6