Rigaku
Miniflex 600
5년
주장비
분석
화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기
공동활용서비스
2025-12-11
83,000,000원
없음
- CCU 실증공정에서 촉매 반응 전·후의 결정상 변화 확인을 통해 반응 메커니즘을 규명하고, 활성상 유무 평가에 활용함.
- 합성된 촉매 또는 소재의 결정성, 결정립 크기, 격자 구조를 분석하여 설계 조건 적합성 여부를 검토하는 데 사용함.
- 공정 운전 조건별로 수집된 시료의 결정 구조 변화를 추적함으로써, 실증 공정의 반복 운전 안정성과 구조 유지 특성을 평가하는 데 활용함.
- 열처리, 환원 등 처리 조건에 따른 결정상 변화 확인을 통해 촉매 전처리 조건의 최적화 연구에 사용함.
- 반응 후 생성된 고체 부산물이나 침전물의 구조 확인을 통해 반응 부산물 억제 및 공정 순도 확보를 위한 기준 자료로 활용함.
- X-ray Tube : 600W 고출력 microfocus X-ray 광원 탑재
- 검출기 : 고감도 1D 검출기 (D/teX Ultra) 기본 제공
- 측정방식 : θ/θ 방식, 브래그 브렌타노(Bragg-Brentano) 기하 구조 적용
- 분해능 : 고해상도 슬릿 및 monochromator 장착 가능, Kβ 필터 포함
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 54,468원
-선 회절 분석(XRD)은 시료에 X-선을 조사하면, 결정 구조에 따라 특정 각도에서 회절 현상이 발생하는 원리를 이용함. 이 회절 패턴을 분석하면 시료의 결정 구조, 격자 간격, 결정성, 결정립 크기 등을 정성·정량적으로 분석할 수 있음. 분석은 브래그의 법칙(nλ = 2dsinθ)에 기반하여 수행되며, 분석 대상이 결정 구조를 갖는 고체 시료일 경우 특히 유용함.
본 장비는 고감도 검출기 및 고출력 X선원을 탑재하고 있어 미량 시료에서도 정밀한 회절 패턴 분석이 가능하며, 자동화된 측정과 해석 기능을 통해 반복성과 데이터 신뢰성을 확보할 수 있음. 특히, 촉매 반응 전후의 결정상 변화를 비교하거나, 실증 공정 조건에 따라 구조 변화 여부를 추적하는 데 효과적임. 또한, 해석 소프트웨어(PDXL 등)를 통해 정성·정량 분석, Rietveld 해석 등 고급 기능 지원 가능함.
● 고정식 회전 검출기 방식의 X-ray 회절 장비로, 분말 및 고체 시료 분석 가능
● 자동 시료 교환 장치 탑재로 반복 분석 및 연속 운전에 적합
● 결정상 분석 및 표면 패턴의 정성·정량 분석을 위한 전용 해석 소프트웨어 제공
● 다양한 공정 조건 또는 반응 환경에서 확보된 시료의 구조적 변화 분석에 활용 가능
● 기하구조 : 수직형 θ/2θ 또는 θ/θ 방식
● 발산 슬릿 : 고정 또는 가변 슬릿 적용 가능하며, 67°(2θ) 이하 영역에서 시료 조사 범위 약 20 mm 유지
● 검출기 : 다채널 반도체 검출기 방식, 충분한 검출 면적 및 에너지 분해능 확보