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장비정보

제작사
Horiba
모델 명
MESA-50K

내용연수
10년
구분
주장비

용도
분석
표준 분류
화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2025-11-21

취득금액
77,669,400원
인증정보
없음
기능
- RoHS 기준에 적용하는 다양한 물질의 유해물 분석에 활용
- 금속 원료의 품질 관리, 합금 성분 분석, 스크랩 분류 시 성분 분석으로 활용
- 지질 시료, 광물 성분 분석, 매장량 탐사 등에 활용
- 환경 샘플의 오염 물질(중금속 등)을 식별하고 농도를 측정하는 데 활용
- 식품이나 화장품에 포함된 유해 원소나 특정 성분을 분석하여 품질 관리에 활용
- 반도체, 석유 화학, 건설, 자동차 등 다양한 산업에서 제품의 원소 조성 및 품질을 확인하는데 활용
장비 상세설명
- 원리 : 에너지 분산형 엑스레이 형광에너지 분석법 (EDXRF)
- 주사용처 : 정성, 정량 분석, RoHS, ELV, Halogen Free
- 측정 가능 원소 : 13Al - 92U
- 샘플 : 고체, 액체, 분체
- X-ray 용량 : Max 50kV, 0.2mA
- X-ray 발생장치 : Pd Target
- X-ray 튜브 전압 : 15kV or 50kV / X-ray tube 전류 : Max 50kV, 200uA
- X-ray 조사경 크기 : 1.2mm, 3mm, 7mm (자동 선택)
- X-ray 필터 : 4 종 (자동 선택)
- 검출기 : SDD (Silicon Drift Detector)
- 시료대 상태 : Air
- 시료대 크기 : 460 x 360 x 150 (WxDxH. mm)
- 샘플 최대 중량 : 30kg
- 도금두께 전용 소프트웨어 : FPM에 의한 다층 두께 측정 (표준물 없이 또는 1점 교정)
- 시료 관찰 카메라 : CCD 카메라

이용안내

사용형태
기관의뢰 직접사용

설치형태
고정형
사용료 형태
건별

장비 사용료
[EA] 35,000원

장비설명

- X-선 형광분석기는 시료에 X-선을 조사했을 때 방출되는 형광 X-선을 측정하여 원소 성분을 분석하는 장비임.
- 시료를 파괴하지 않고 금속, 광물, 토양, 플라스틱 등 다양한 재료의 원소 조성을 빠르게 확인할 수 있음.
- 원소별로 방출하는 X-선의 에너지가 고유하기 때문에 이를 측정해 어떤 원소가 얼마나 포함되어 있는지 정성·정량 분석이 가능함.
- 분석 과정이 간단하고 시간 소요가 적어 산업·연구·환경 분야에서 널리 사용됨.

장비 구성 및 성능

- 원리 : 에너지 분산형 엑스레이 형광에너지 분석법 (EDXRF)
- 주사용처 : 정성, 정량 분석, RoHS, ELV, Halogen Free
- 측정 가능 원소 : 13Al - 92U
- 샘플 : 고체, 액체, 분체
- X-ray 용량 : Max 50kV, 0.2mA
- X-ray 발생장치 : Pd Target
- X-ray 튜브 전압 : 15kV or 50kV / X-ray tube 전류 : Max 50kV, 200uA
- X-ray 조사경 크기 : 1.2mm, 3mm, 7mm (자동 선택)
- X-ray 필터 : 4 종 (자동 선택)
- 검출기 : SDD (Silicon Drift Detector)
- 시료대 상태 : Air
- 시료대 크기 : 460 x 360 x 150 (WxDxH. mm)
- 샘플 최대 중량 : 30kg
- 도금두께 전용 소프트웨어 : FPM에 의한 다층 두께 측정 (표준물 없이 또는 1점 교정)
- 시료 관찰 카메라 : CCD 카메라

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