Oxford Instruments
Unity, BEX Imaging Detector
11년
옵션/액세서리(보조장치) (주장비:섬유소재 표면분석용 주사전자현미경)
시험
광학/전자영상장비 > 현미경 > 전자현미원소분석기
공동활용서비스
2025-12-05
137,500,000원
없음
전자현미경(SEM)에 add-on하여 사용하는 이미지/성분 복합 검출기로 친환경 플라스틱, 나노소재 필터, 부직포 및 필름의 포어 분석 및 표면 굴곡분석에 효과적인 장비
BEX (Backscattered Electron and X-ray)는 전자현미경(SEM)에 추가하여 사용하는 이미지/성분 복합검출기로 친환경 플라스틱, 나노소재 필터, 부직포, 필름 등의 포어(기공) 및 표면 굴곡, 원소분석을 통해 최적 공정 요소기술 개발 지원에 활용
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 40,000원
전자현미경(SEM)에 add-on하여 사용하는 이미지/성분 복합 검출기로 친환경 플라스틱, 나노소재 필터, 부직포 및 필름 뿐만 아니라 다양한 소재의 포어 분석 및 표면 굴곡 분석, 원소분석에 효과적인 장비
· Senser Type
- Two custom shaped silicon based diodes for direct to detection of backscattered electrons
- Two silicon Drift detectors sensors for x-ray imaging large field of view and shadow-free BEX imaging
· BEX Detection range
: Na(11) to Cf(98)
· BSE Topograhpy : Yes
· Cooling
: LN2-Free, Peltier Cooling
· Vacuum Mode
: High Vacuum, Low Vacuum (up to 133Pa)
· Protection
: Auto-Cool Interlock with EDS detectors
· Servicability
: Exchangeable detector head
· Insertion System
: Motorized insertion and retraction