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장비정보

제작사
STAr Technologies
모델 명
STAr APOLLO

내용연수
10년
구분
주장비

용도
시험
표준 분류
기계가공/시험장비 > 재료물성시험장비 > 달리 분류되지 않는 재료물성시험장비

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2026-04-24

취득금액
1,516,881,020원
인증정보
없음
기능
○ 탄소저감 핵심부품인 전력반도체(MOSFET, IGBT, Diode등) 및 Wide Band Gap(GaN, SiC 등 화합물반도체)의 JEDEC, AEC,-Q, AGQ-xxx 규격의 2KV/100V 신뢰성 평가 및 수명예측
○ 신뢰성 평가 항목
- HTRB : High Temperature Reverse Bias
- HTGB : High Temperature Gate Bias
- H3TRB : High-Humidity, High Temperature Reverse Bias
○ 신뢰성 평가 규격
- IEC 60749-5:2017(Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test)
- IEC 60749-23:2011(Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life)
- JESD22-A101D.01: 2021(Steady-State Temperature-Humidity Bias Life Test)
- JESD22-A108F : 2017(Temperature, Bias, and Operating Life)
○ Max 3KV DC parametric test 기능으로 HTRB, HTGB, H3TRB Test 전후 DUT의 전기적 측정 및 변화량을 비교할 수 있어, 기존 각 test 별로 나누어져 있던 장비를 하나의 turn-key system으로 구성
장비 상세설명
○ AQG-324 자동차 파워 모듈 관련 표준 신뢰성 대응장비
- 자동차 시장에서 활동하는 ECPE 회원사로 구성된 ECPE 워킹 그룹 ’자동차 전력 모듈 자격’이며, 독일 자동차 OEM이 전력 전자 공급업체 업계 대표들과 함께 ECPE 및 독일 ZVEI 협회의 공동 워킹 그룹에서 개발한 공급 사양 LV 324를 기반으로 하는 규격
- Reliability 기능 : HTRB, HTGB, H3TRB, HTST
- Test 기능 : System Setup, Operation Editors, Interactive Controls, Data Analyzer, Test & Measurement,

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
고정형
사용료 형태
시간별

장비 사용료
[Hr] 10,000원

장비설명

○ 탄소저감 핵심부품인 전력반도체(MOSFET, IGBT, Diode등) 및 Wide Band Gap(GaN, SiC 등 화합물반도체)의 JEDEC, AEC,-Q, AGQ-xxx 규격의 2KV/100V 신뢰성 평가 및 수명예측
○ 신뢰성 평가 항목
- HTRB : High Temperature Reverse Bias
- HTGB : High Temperature Gate Bias
- H3TRB : High-Humidity, High Temperature Reverse Bias
○ 신뢰성 평가 규격
- IEC 60749-5:2017(Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test)
- IEC 60749-23:2011(Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life)
- JESD22-A101D.01: 2021(Steady-State Temperature-Humidity Bias Life Test)
- JESD22-A108F : 2017(Temperature, Bias, and Operating Life)

장비 구성 및 성능

○ Oven spec
- HTRB/GB : 50 ~ 200℃, Accuracy: ±1℃
- Temperature uniformity: +/-3degC
- H3TRB : 10~98%Rh
○ DUT board spec
- 12 boards of 14 DUTs ,Total 168 DUTs for HTRB/GB
- 4 boards of 20 DUTs , Total 80 DUTs for H3TRB
- Support TO220, TO247 Package and Power Module
○ Electrical spec
- HTRB : ~ 2000V/1A(Vc)
- HTGB: ~ 100V/1A(Vg)
- HTRB : Vg=Ve=Gnd , HTGB & H3TRB : Vc=Ve=Gnd
- Support measure BV, Vth, Idsat, Idoff, Rdson, Vceset, IDss, IGss 등
○ Dimension spec
- Oven : 87cm(W)x117cm(D)x168cm(H)
- Tester : 71cm(W)x93cm(D)x203cm(H)
○ Power spec
- Oven : AC 3ϕ 4W 380V 11A 60Hz(R.S.T.N+G)(5M power cable)
- Tester : AC single phase LN 220V(63A) 60Hz

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