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장비정보

제작사
ESPEC
모델 명
PL-TSA

내용연수
10년
구분
주장비

용도
시험
표준 분류
기계가공/시험장비 > 재료물성시험장비 > 환경모사시험기

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2025-11-05

취득금액
160,543,140원
인증정보
없음
기능
- 모빌리티 및 전력용 반도체의 JEDEC, AEC 관련 표준에 의거한 웨이퍼부터 MOSFET, Diode, IGBT 및 Power module 열내구성 및 온습도 내구성 평가
- 와이드밴드갭기술(SiC/GaN) 제품의 고온, 저온에 의한 제품의 열내구성 평가
- Power module의 전압, 온습도에 의한 온습도 내구성 평가
- 고온고습, Bias에 의한 Galvanic 또는 ion migration이 불량유형이며 국제공인인증 규격에 의해 시험 진행이 필수적이며 신뢰성 확보 및 불량 개선
장비 상세설명
- -40℃ ~ 150℃의 온도 범위 및 20%R.H.~98%R.H.
- 고온 60℃ ~ 200℃, 저온 0℃ ~ –70℃, High-temp exposure 150℃, 15min, Low-temp exposure –65℃ 15min
- 공인인증 규격 JESD22-A104, JESD22-A101, JEDEC J-STD-020의 규격내의 시험조건 인증시험

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
고정형
사용료 형태
시간별

장비 사용료
[Hr] 6,000원

장비설명

- 탄소저감을 위한 반도체 융합부품(모빌리티 및 전력용 반도체의) JEDEC, AEC 관련 표준에 의거한 웨이퍼부터 MOSFET, Diode, IGBT 및 Power module 열내구성 및 온습도 내구성 평가
- 화합물반도체 등 와이드밴드갭기술(SiC/GaN) 제품의 고온, 저온에 의한 제품의 열내구성 평가
- 전력반도체 Power module의 전압, 온습도에 의한 온습도 내구성 평가
- 고온고습, Bias에 의한 Galvanic 또는 ion migration이 불량유형이며 국제공인인증 규격에 의해 시험

장비 구성 및 성능

- -40℃ ~ 150℃의 온도 범위 및 20%R.H.~98%R.H
- 고온 60℃ ~ 200℃, 저온 0℃ ~ –70℃
- High-temp exposure 150℃, 15min
- Low-temp exposure –65℃ 15min
-공인인증 규격 JESD22-A104, JESD22-A101, JEDEC J-STD-020의 규격내의 시험조건 인증시험

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