(주)에스오에스랩
없음
10년
주장비
분석
광학/전자영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
공동활용서비스
2025-11-26
401,500,000원
없음
· 광검출기 양자 효율 (quantum efficiency) 측정
· 광검출기 반응도 (spectral responsivity) 측정
· 광검출기 전압-전류 관계 (I-V curve, photo current, dark current) 측정
· 단일광자검출기 광자검출효율 (photon detection effciency) 측정
· 단일광자검출기 다크 카운트 빈도(dark count rate) 측정
- 라이다(LiDAR)용 수광 소자(APD, PIN PD, SPAD, SiPM 등)의 I–V 특성, 양자 효율(EQE), 파장 반응도, 노이즈 특성(NEP, Dark Noise, Dark Count) 등을 정밀 측정
- 905nm, 940nm, 1550nm 등 자율차 라이다 핵심 파장대 포함, 600~1600nm 이상의 광대역 파장 광원을 사용하여 다양한 조건의 수광 소자 특성 측정
- Dark Room Chamber를 적용하여 외부광 차단 및 저반사 환경을 조성하고, 균질한 광 빔을 생성하는 Beam Homogenizer를 통해 파장별 균일한 조사 조건을 제공
- 모터 구동 XYZ 스테이지를 통해 소자 위치를 1μm 단위로 정밀 조정하여 고정밀 측정 환경 제공
- Source Meter(SMU) 기반으로 고전압 인가, 전류·전압 측정, 노이즈 분석 등
- 단일광자검출기(SPAD)의 광자 검출효율(PDE), 다크카운트(DCR), 타이밍 지터 등 고급 성능 측정이 가능
- 전용 소프트웨어를 통해 EQE, SR, 노이즈 분석 등 측정 데이터를 자동화·가시화하여 분석 효율을 향상함
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 500,000원
- 본 장비는 라이다용 수광 소자(APD, PIN PD, SPAD, SiPM 등)의 I-V 특성, 양자 효율(EQE), 파장 반응도(spectral responsivity), 노이즈 특성(dark noise, dark count)을 정밀하게 측정하기 위해 구성된 성능 분석 장비임
- 600~1600nm 범위의 광대역 파장 광원을 적용하여 905nm, 940nm, 1550nm 등 자율주행 라이다 주요 파장에서의 광학적 특성을 평가할 수 있음
- 암실(Dark Room Chamber) 환경과 저반사 구조를 조성하여 외부광의 영향을 최소화하고, 빔 균질기(beam homogenizer)를 통해 파장별 균일한 조사 조건을 제공함
- 모터 구동 XYZ 스테이지를 이용해 소자의 위치를 1μm 해상도로 정밀하게 조절하여 측정 정확도를 확보함
- 자체 Source Meter(SMU)를 활용해 전압·전류 인가 및 측정, 노이즈 분석 등 다양한 전기적 시험이 가능하며, 단일광자검출기(SPAD)의 광자검출효율(PDE)과 다크카운트(DCR) 같은 추가 성능 측정도 수행할 수 있음
- 전용 소프트웨어를 통해 EQE, SR, 노이즈 특성 등을 자동 계산·가시화하여 수광 소자의 성능을 신속하고 정확하게 분석할 수 있음
- 광원 불안정성 : 1% 미만
· 단색광 파장 범위 : 300~1000nm (최대 2500nm)
· 광원 균일성 : ≤ 5x5mm, uniformity > 99%
· 시준 반각 : < 3deg
- 라이다용 수광 소자, 수광 모듈을 개발 및 생산하는 수요기업의 제품에 대한 성능평가, 검증 장비로 활용
· 광검출기 양자 효율 (quantum efficiency)
· 광검출기 반응도 (spectral responsivity)
· 광검출기 전압-전류 관계 (I-V curve)
· 단일광자검출기 광자검출효율 (photon detection effciency)
· 광검출기 다크노이즈(dark noise)
· 단일광자검출기 다크카운트(dark count)해당 장비에서 측정된 수광 소자 성능 지표와 라이다의 성능지표의 연계성 구축하여 향후 국제 표준 (ISO 13228)에 해당 성능 지표와 관련된 평가 방법 제안
- 라이다 수광 소자 성능 테스트 장비의 측정 가능 주요 파라미터
※ 필수 옵션 : 광검출기(Photodetector) 주요 성능 측정 가능
· 양자 효율 (quantum efficiency) 및 파장 반응도 (spectral responsivity)
· 광검출기 전압-전류 관계 (I-V curve, photo current, dark current)
· 광검출기 노이즈 특성 (NEP 등)
· 광자검출효율 (PDE, photon detection effciency)
· DCR(Dark Cout Rate)