Otsuka Electronics
QE-2100
10년
주장비
분석
광학/전자영상장비 > 광파발생/측정장비 > 파장계측기
공동활용서비스
2025-11-04
186,200,000원
없음
이 장비는 양자점 및 필름 시료의 광학적 양자효율을 측정하는 시스템으로, 절대 PL(Photoluminescence) 기반의 발광 특성 평가가 가능함. 모노크로미터와 Xe램프를 이용해 임의의 여기파장을 조사하고, 적분반구 내에서 투과·반사·형광 스펙트럼을 측정하여 시료의 외부·내부 양자효율을 정밀하게 분석함.
Spectrometer, Monochrometer, Xe 램프, 적분반구 등으로 구성된 이 장비는 분말·필름·용액 시료의 발광 특성을 분석하며, Czerny–Turner 방식의 분광기를 통해 250~850nm 범위의 파장을 정밀 측정함. CCD 검출센서와 표준램프를 통해 정확한 보정이 가능하며, OLED 및 LED의 발광효율 평가에도 적합함.
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 50,000원
본 장비는 OLED, Quantum Dot, 형광체, 무기입자 등 다양한 발광 소재의 광학특성 평가를 목적으로 개발된 시스템임. 샘플의 반사·투과·투과반사 모드를 지원하고, 여기광에 따른 발광 스펙트럼을 측정함으로써 재료의 발광효율, 신뢰성, 광변화 거동을 종합적으로 분석할 수 있음.
- Spectral Range : 250 ~ 850 nm
- XE lamp unit (240~2000 nm), 3000 H
- 6’ Hemishpere for film
- Monochormeter(1800 grooves/mm)
- 흡수율, 투과율, 반사율, 발광스펙트럼, 여기광스펙트럼, 외부양자효율, 내부양자효율 특성치 측정