oewaves
OE4000
10년
주장비
분석
광학/전자영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
공동활용서비스
2025-07-03
106,700,000원
없음
- 레이저 광원의 선폭(Linewidth) 측정
- 위상 노이즈(Phase Noise) 정밀 분석
- 광섬유 센서의 성능 검증 및 평가
- 계측기기의 신뢰성 시험
- 연구개발용 레이저 특성 측정
- 국제 규격 및 표준 시험 적용
- 초저위상 잡음 환경에서 주파수 안정성 분석
본 장비는 레이저 광원의 선폭(Linewidth)과 위상 노이즈(Phase Noise)를 초정밀하게 측정하기 위해 설계된 광학 위상 노이즈 테스트 및 측정 시스템이다.
1530~1565nm C-band 대역의 입력 파장 범위를 지원하며, Lorentzian/Instantaneous 조건에서 0.5Hz 이하의 높은 민감도를 제공한다. 또한 3Hz~30kHz FWHM 선폭 측정이 가능하여 다양한 광원 특성에 적합하다.
본 장비는 초저위상잡음(ultra-low phase noise floor) 성능을 보유하여, 10Hz offset에서 50Hz/√Hz, 1kHz offset에서 2Hz/√Hz, 1MHz offset에서 0.2Hz/√Hz의 우수한 노이즈 플로어 성능을 제공한다. 이로써 레이저의 주파수 안정성 및 장기 신뢰성을 평가할 수 있으며, 광섬유 센서 기반 계측기기의 개발 및 품질 관리에도 활용된다. 연구개발뿐만 아니라 제품의 국제 규격 시험에도 적용 가능하여, 산업 및 학술 연구에 필수적인 계측 장비이다.
기관의뢰 직접사용 임대가능
이동형
시간별
[Hr] 1원
본 장비는 광섬유 센서 기반 고정밀 계측센서 개발 과제를 수행하기 위해 구축된 핵심 장비로, 레이저 광원의 안정성과 신뢰성을 정량적으로 분석할 수 있다. 레이저의 선폭과 위상 노이즈를 측정함으로써 센서 시스템의 성능을 평가하고, 광섬유 계측 기술의 신뢰도를 확보하는 데 중요한 역할을 한다. 또한, 연구개발 과정에서 개발된 광센서의 품질을 검증하고 표준화 시험을 지원함으로써 과제 목표 달성에 직접 기여한다.
1) 장비 구성
- 광학 위상 노이즈 테스트 및 측정 시스템 본체 1세트
2) 주요 사양
- 입력 파장 범위: 1530 ~ 1565 nm
- 선폭 감도:
- Lorentzian/Instantaneous (<10 μs 경우): <0.5 Hz
- FWHM (<10 ms 경우): 3 Hz ~ 30 kHz
- 주파수 노이즈 플로어 (C-band, Ultra-low Phase Noise Floor Option):
- 50 Hz/√Hz at 10 Hz offset
- 10 Hz/√Hz at 100 Hz offset
- 2 Hz/√Hz at 1 kHz offset
- 0.2 Hz/√Hz at 1 MHz offset
- 확장 오프셋 주파수 범위: 1 Hz ~ 100 MHz
- 광 입력 파워 범위: -5 dBm ~ +5 dBm
- 정격 전압: AC 220V 전용
- 소프트웨어 정보 별도 기입 없음