Bruker

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Bruker D8 ADVANCE는 분말 및 박막 시료의 결정구조를 정밀하게 분석할 수 있는 고성능 X선 회절(XRD) 장비로, 결정상 동정, 결정구조 해석, 격자상수 계산, 결정성 및 결정립 특성 평가를 수행한다. 다양한 광학계 및 검출기 구성이 가능하여 일반 분말 분석부터 고급 재료 분석까지 폭넓은 응용이 가능하며, 실시간(in-situ) 측정 확장성을 통해 온도·환경 변화에 따른 구조 변화를 추적할 수 있다.

D8 ADVANCE는 고정밀 고니오미터와 안정적인 X선 광원을 바탕으로 높은 각도 정확도와 재현성을 제공하는 연구용 XRD 시스템이다. 고해상도 광학계(슬릿, 모노크로메이터 등)를 통해 미세한 피크 분리 및 저결정성 시료 분석이 가능하며, 최신 고속 검출기를 활용해 측정 시간을 단축하면서도 우수한 신호 대 잡음비를 확보할 수 있다.
본 장비는 분말, 박막, 코팅층 등 다양한 형태의 시료 분석에 활용 가능하며, 특히 리튬이온배터리 양극·음극 소재의 상분석, 구조 안정성 평가, 열처리 및 충·방전 조건에 따른 결정구조 변화 연구에 적합하다. 또한 향후 in-situ/operando 측정 모듈과의 연계를 통해 배터리 작동 중 구조 진화를 실시간으로 관찰할 수 있어, 기초 연구부터 응용·산학 협력 연구까지 폭넓은 활용이 기대된다.