Ta Instruments

없음

1. 열중량 분석기
1) 열중량 분석기 종류: Vertical Type
2) 온도 범위: Ambient ~ 1,100 °C 또는 동등 이상
3) 온도 정밀도: ±0.15 °C 미만 또는 동등 이상
4) 온도 정확도: ±1 °C 미만 또는 동등 이상
5) 승온 속도: 0.1 to 200 °C/min 또는 동등 이상
6) 가열로 냉각 속도: 최고온도에서 35 °C까지 10분 미만 또는 동등 이상
7) 무게 정밀도: ±0.01 % 또는 동등 이상
8) 무게 신호 분해능: 0.1 μg 또는 동등 이상
9) 베이스라인 기울기(30~1,000 °C, 보정없는 상태): 10 μg 미만 또는 동등 이상

2. 적외선 분광기
1) 측정 범위: 7,800 ~ 350 cm⁻¹ 또는 동등 이상
빔스플리터(Beam Splitter) 자동 교체를 통한 NIR, FarIR 범위(27,000 ~ 10 cm⁻¹)까지 확장 가능해야 함
2) 인터페로미터: 플랫 미러 사용 미켈슨 타입(Michelson type interferometer)
a. 보증기간: 10 년 이상
b. 스캔 속도: 초당 65 스펙트라로 측정이 가능해야 하고, 초당 95 스펙트라까지 확장 가능하여야 함
c. 보정 방법: 물리적인 능동형 보정 방법(Dynamic Alignment)
d. 내부 반사 횟수: 1회
3) 광원: SiN 재질의 높은 안정성과 긴 수명의 중적외선 광원
- 보증기간: 10 년 이상 또는 10 년에 해당하는 개수의 광원
4) 레이져: 헬륨 네온 레이져(HeNe Laser)
- 보증기간: 5 년 이상
5) 검출기: 1개 또는 동등 이상
- 열 검출기(DTGS): 측정영역 7,800 ~ 350 cm⁻¹
- 고감도 MCT 검출기: 측정영역 7,800 ~ 750 cm⁻¹
6) 빔스플리터: 1개 또는 동등 이상
- Ge-on-KBr 빔스플리터

○ 미지 시료 및 개발 중인 소재를 열중량 분석기에서 일정한 속도로 가열하면서 발생하는 분해, 탈수, 산화, 환원 등에 의한 중량 변화로 성분의 함량을 측정하는 동시에 분해된 가스를 적외선 분광기의 가스셀로 동시에 이송하여 가스 성분을 라이브러리로 분석하는 장비임
- 시료에 다양한 파장의 적외선을 조사하여 산란되는 파장을 분석하는 퓨리에 적외선분광기법을 적용하여 다양한 소재의 성분을 측정하는 장비
- 적외선 분광기에 장착된 ATR 모듈을 통해 고체, 액체 상태의 시료 성분을 측정할 수 있어 열중량분석기에서 측정된 결과와 함께 시료의 정량 및 정성 분석을 동시에 수행할 수 있음