NAUTA
NE3100
10년
주장비
시험
기계가공/시험장비 > 반도체장비 > 식각장비
공동활용서비스
2025-12-16
810,000,000원
없음
- 독립적인 플라즈마 및 바이어스 제어
- 고밀도 플라즈마 생성
- 낮은 작업 압력에서의 공정
- 우수한 이방성
- 높은 시각 rthr도
- 공정 가스의 다양성 및 혼합가스 사용 가능
- 온도 제어
- End-point Detection
- Plasma Damage 최소화
- 자동화 및 Recipe 저장기능
- 반도체 공정을 이용한 탄소저감형 융합부품의 제작공정에 활용
- 일반 반도체 공정용 금속 및 절연체 식각
- 전류센서, 자기센서 등에 사용되는 CFB와 같은 융합소재의 정밀 식각
- ScAlN등과 같은 플라즈마내 식성 소재의 정밀 식각 등
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 100,000원
- 반도체 공정을 이용한 탄소저감형 융합부품의 제작공정에 활용
- 일반 반도체 공정용 금속 및 절연체 식각
- 전류센서, 자기센서 등에 사용되는 CFB와 같은 융합소재의 정밀 식각
- ScAlN등과 같은 플라즈마내 식성 소재의 정밀 식각 등
- High etch rate and high selectivity
- Low damage etch and high repeatability processing
- Single wafer load lock or clusterable with up to 5 process modules
- He backside cooling for optimum temperature control
- Wide temperature range electrode, -150°C to 400°C
- Compatible with all wafer sizes up to 200mm
- Rapid change between wafer sizes
- In-situ chamber cleaning and end-pointing