SURAGUG
TF map 2530SR
10년
주장비
분석
전기/전자장비 > 측정시험장비 > 다기능임피던스측정시험장비
공동활용서비스
2026-04-01
284,453,200원
없음
1. 비접촉 면저항 측정
: 시료 표면에 탐침을 접촉하지 않고 면저항을 측정하는 기능을 갖음.
일반적인 4 point probe 방식은 금속 탐침이 시료에 닿아야 하므로 표면 손상, 오염, 접촉저항 오차가 발생할 수 있음.
반면 이 장비는 비접촉 방식이므로 접촉저항에 의한 오차를 줄이고 민감한 박막도 손상없이 측정 가능.
2. 대면적 면저항 매핑
: 시료의 한 점만 측정하는 것이 아닌 전체 면을 여러 지점으로 나누어 측정
시료의 균질성과 부분적으로 면저항이 높고 낮음을 확인할 수 있음
1. 장비 개요
: SURAGUS TF map 2530SR은 전도성 박막, 금속 박막, 투명전극, 웨이퍼, 유리, 필름 등의 면저항(sheet resistance)을 시료에 접촉하지 않고 측정하는 반자동 면저항 매핑 장비
최대 300mm X 300mm (12 inch) 크기의 시료를 측정할 수 있음.
시료 전체를 자동으로 스캔하여 전체 명의 면저항 분포를 컬러 맵 형태로 표시함.
2. 측정원리
: 비접촉 와전류 방식(non-contact eddy current method)을 사용.
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 100,000원
1. 비접촉 면저항 측정
: 시료 표면에 탐침을 접촉하지 않고 면저항을 측정하는 기능을 갖음.
일반적인 4 point probe 방식은 금속 탐침이 시료에 닿아야 하므로 표면 손상, 오염, 접촉저항 오차가 발생할 수 있음.
반면 이 장비는 비접촉 방식이므로 접촉저항에 의한 오차를 줄이고 민감한 박막도 손상없이 측정 가능.
2. 대면적 면저항 매핑
: 시료의 한 점만 측정하는 것이 아닌 전체 면을 여러 지점으로 나누어 측정
시료의 균질성과 부분적으로 면저항이 높고 낮음을 확인할 수 있음
예를 들어 ITO 코팅 유리의 중앙부는 15 Ω/sq인데 가장자리 부분은 25 Ω/sq로 나타난다면, 코팅 균일성이 좋지 않다는 결과를 바로 확인 가능.
3. 고해상도 측정
측정 조건에 따라 빠른 측정 또는 고해상도 측정 선택 가능.
빠른 조건에서는 1분 미만의 측정이 가능, 고해상도 조건에서는 최대 90,000개 측정점까지 설정 가능.
4 결함 및 불균일성 검출
측정 결과는 컬러 맵으로 표시, 육안으로 보기 어려운 박막의 두께 불균일, 코팅 누락, 크랙, 전극 단선, 국부 저항 증가 등 확인 가능.
5 금속층 두께 및 관련 물성 평가
면저항은 박막 두께와 관련이 있기 때문에 재료의 고유저항을 알고 있으면 면저항으로부터 금속층 두께 추정 가능.
- 와전류 센서 : 비접촉 방식으로 면저항, 금속층 두께, 전도도 관련 신호 측정
- X-Y 이동 스테이지 : 시료를 정해진 간격으로 이동시켜 전체 면을 자동 스캔
- 샘플 장착부 : 필름, 유리, 웨이퍼 등 시료를 측정 위치에 고정
- 장비 제어부 : 센서 신호 수집, 스테이지 제어, 측정 조건 관리
- 분석 소프트웨어: 면저항 맵 표시, 통계 분석, 선 분석, 히스토그램, 영역 분석 수행
- 데이터 저장, 출력기능: 측정 결과를 CSV, PDF 등으로 저장 및 보고서화 가능
- Contact-free imaging
- High speed (10,000 points in 5min)
- Repeatable and accurate
- Max scanning area : 12 inch / 300x300mm