○ 반도체 저온 저장 시험기 주요사양
1. 온도 범위: −70 ℃ ~ +150 ℃
2. 온도 편차: ±0.3 ℃
3. 공간 내 온도 편차: 1.5℃
4. 온도 변화율: 가열 속도 5.0 ℃/분, 냉각 속도 1.0 ℃/분
5. 극한 온도 도달 시간:
- +20℃ → +100 ℃: 30분
- +20℃ → −70 ℃: 65분
6. 허용 열부하: 2200 W
7. 허용 주위조건: 0 ℃ ~ +40 ℃, 상대습도 75% 이하
8. 용량 및 치수
- 용량: 800 L
- 챔버 총 적재 하중: 100 ㎏
- 내부치수(W×H×D): 1000×1000×800 ㎜
- 외부치수(W×H×D): 1410×1853(1983)×1593 ㎜
- 중량: 695 ㎏