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장비정보

제작사
Keysight
모델 명
E4727B-200

내용연수
10년
구분
주장비

용도
분석
표준 분류
전기·전자장비 > 분석장비 > 달리 분류되지 않는 분석장비

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2024-02-26

취득금액
278,407,600원
인증정보
없음
기능
- 1E-28 A2/Hz(일반)까지 노이즈 측정
- 매우 낮은 바이어스 전류에서 노이즈 측정 가능
- 프로브스테이션과의 연동
장비 상세설명
반도체 센서, 소자 및 회로의 신뢰성 향상을 위한 잡음 특성을 측정하고 평가
- 30mHz ~ 100MHz의 분석 주파수 범위
- 30pA 바이어스 전류까지 노이즈 측정(일반)
- 각각 최대 0.1A / 200V / 10W의 전류/전압/전력 범위

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
고정형
사용료 형태
기타

장비 사용료
[Hr] 1원

장비설명

- 나노 스케일의 센서, 소자 및 회로들의 전류 변동량을 측정하여 플리커 잡음 특성을 분석할 수 있음
- 지원되는 장치 유형: FET, BJT, 다이오드, 저항기 및 회로(Op-Amp, 비교기 등)

장비 구성 및 성능

Flicker(1/f) noise measurement
- Measurable Device Types: FETs, BJTs, Diodes, Resistors, and Circuits(Op-Amps etc.)
- Device Types Structure: Wafer and Package
- Analysis frequency range: 30 mHz-100 MHz
- Minimum Measurable Noise: 1E-28 A2/Hz (Typ.)
- Minimum Bias Current for Noise Measurement: 30 pA (Typ.)
- Maximum Current/Voltage/Power: 0.1 A/ 200V / 10 W

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