Mitutoyo
FTA-S4D3000-D MM
9년
주장비
분석
기계가공/시험장비 > 재료물성시험장비 > 달리 분류되지 않는 재료물성시험장비
공동활용서비스
2025-11-17
44,900,000원
없음
FTA-S4D3000-D MM 장비는 공업 및 연구 환경에서 대상 물체의 표면 형상과 조도를 동시에 정밀하게 측정할 수 있는 고성능 장비입니다. 이 장비는 공작물의 미세한 높낮이 변화와 가공 면의 거칠기를 한 번에 분석할 수 있어, 제품의 품질 검증은 물론 가공 공정의 성능 평가에도 사용됩니다. 특히, 접촉식 프로브 방식으로 안정적인 데이터 취득이 가능하며, 측정 결과는 전용 소프트웨어를 통해 시각화 및 정량화할 수 있습니다. 이러한 특성 덕분에 항공·자동차·반도체 등 고정밀 산업 분야에서 널리 활용됩니다.
○ 역할
FTA-S4D3000-D MM은 하나의 장비로 형상과 조도 측정 기능을 모두 수행하는 통합형 계측 시스템입니다. 각각의 기능은 다음과 같습니다:
- 형상 측정 기능: 탐침이 대상 표면을 스캔하며 높이 변화를 기록하여, 가공된 제품의 외형 프로파일을 정확하게 재현합니다. 이 과정에서 곡면, 요철 등의 형상 오류를 확인할 수 있습니다.
- 표면 조도 분석: 나노미터 단위의 분해능을 바탕으로 표면의 거칠기를 수치화하여, 가공 면의 품질을 정량적으로 평가할 수 있습니다.
- 통합 분석 기능: 별도의 측정 장비 없이 동일 시료에 대해 형상과 조도를 연속적으로 분석하여 시간과 비용을 절약할 수 있습니다.
- 시각화 및 보고서 기능: 전용 소프트웨어를 통해 2D 및 3D 그래프로 결과를 확인할 수 있으며, 분석 보고서 생성도 지원합니다.
○ 성능
- 측정 방식: 스티러스 방식의 접촉형 탐침을 사용하여 형상과 표면 요철을 동시에 측정합니다.
- 측정 범위: 표면 조도의 경우 ±3 mm 정도까지, 형상 측정은 최대 300 mm까지 대응할 수 있어 다양한 종류의 시료를 처리할 수 있습니다.
- 분해능: 매우 높은 Z축 분해능을 지원하여 나노 단위의 미세한 표면 변화도 감지할 수 있습니다.
- 탐침 구성: 여러 크기 및 형태의 탐침을 교체할 수 있어 평면에서부터 급격한 굴곡을 가진 표면까지 폭넓게 측정 가능합니다.
- 자동 스캔 방식: 고정밀 스테이지를 기반으로 자동화된 이동 측정이 이루어집니다.
- 데이터 처리: 측정된 데이터는 국제 표준(ISO, JIS)에 맞춰 분석되며, 다양한 형식으로 저장 및 출력할 수 있습니다.
- 소프트웨어 지원: 형상 및 조도 분석, 공차 비교, 통계 처리 등 다양한 분석 기능을 제공하는 전용 소프트웨어가 포함됩니다.
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 40,000원
FTA-S4D3000-D MM은 정밀 가공 표면의 형상과 표면 조도를 동시에 측정할 수 있는 고성능 접촉식 측정 장비입니다.
이 장비는 가공된 표면의 외형 프로파일과 미세한 표면 요철을 검출하여, 제품이나 소재의 가공 품질을 정량적으로 분석하는 데 사용됩니다.
본 장비는 스타일러스 기반의 접촉식 탐침을 사용하여 측정 대상 표면을 스캔하며, 나노미터 수준의 분해능을 지원하기 때문에 고정밀 분석이 필요하거나 공정 관리를 요구하는 산업 현장에서 활용됩니다.
측정된 형상 데이터와 표면 조도 정보는 전용 소프트웨어를 통해 분석 및 시각화할 수 있어, CAD 기반 설계 도면과의 비교, 공차 분석, 통계 처리 등의 기능을 제공합니다.
즉, FTA-S4D3000-D MM은 하나의 시료에 대해 형상과 조도를 한번에 분석할 수 있는 통합형 측정 솔루션으로, 금속 가공품, 금형, 반도체 패키징 등 다양한 분야에서 품질 검사 및 연구에 사용되는 핵심 장비입니다.
○ 측정 범위 : X축(구동) 100mm, C축(칼럼) 300mm
○ 정반 크기 600mm × 450mm
○ 본체 질량 : 140kg
- 최대 적재 질량 150kg.
○ 센싱 방식 : Z축 ABS 리니어 엔코더, X축 고정도 리니어 엔코더 사용.
○ 구동부 진직도 : 정(0.05+0.00) µm
○ 분해능 : 0.05 µm
○ 이동 속도 : 0~80mm/s
○ 측정 속도 : 0.02~30mm/s
○ 베이스 재질: 반려암
○ 검출기 측정 범위(Z축) 800 µm
○ 센싱 방식 : 차동 인덕턴스 사용
○ 측정 분해능 : 0.1~10nm
○ 촉침 : 조도 측정용 재질 다이아몬드
○ 형상 선단 : R 2µm / 60° 원뿔.
○ 웨이브 측정용 재질 : 초경합금, 형상 선단 R 25µm / 12°.