National Instruments

없음

○ 기능안전에서 요구하는 결함 주입 기반의 안전 메카니즘을 검증하고 안전 요구사항을 평가하는 장비로 아래와 같은 시험 기능을 갖춤
- PMIC 종류인 Linear Regulator, Switching Regulator, Battery Management IC, LED Driver, Voltage Monitoring, DC-DC converter에 대한 결함 주입 시험 지원
- 반도체가 갖는 결함 모델을 주입하여 Failure Mode를 발생시키고, 이에 대응하는 안전 메카니즘의 기능 검증 및 진단 범위 평가
- 고장 영향 확인 지원
- 진단 시간 및 고장 반응 시간 측정 지원

○ 본 장비는 크게 측정 분석용 하드웨어와 기능안전 메카니즘 기능 검증 및 분석용 소프트웨어로 구성되어 있음
- 측정 분석용 하드웨어는 시스템 플랫폼 섀시(전원 공급 타입 AC, 하이브리드 슬롯 수 17개, 시스템 대역폭 4 GB/s), 컨트롤러(프로세서 코어 Intel Core i7, 최대 컨트롤러 대역폭 16GB/s, 코어 8개), 전자부하모듈(채널 1개, 슬롯 3개, 전자부하 60V 30A), 파워소스모듈(최대 전류 25A, 아날로그 출력 전압 범위 0V ~ 20V, 총 출력 전력 300W, 전력 공급 채널 1개), 보조전원공급모듈(출력 전압 45.6V DC ~ 50.4V DC, 출력 전류 50A, 출력 전력 2,280W), I2C통신모듈(최대 I2C 클럭 속도 3.33MHz, 최대 SPI 클럭 속도(50MHz), 인터페이스 모듈로 구성 및 성능을 갖추고 있음
- 기능안전 메카니즘 기능 검증 및 분석 소프트웨어는 PMIC 종류인 Linear Regulator, Switching Regulator, Battery Management IC, LED Driver, Voltage Monitoring, DC-DC converter 등에 대한 기능안전 시험 기능을 갖추고 있음