Micromeritics

없음

워크업 샘플 선별에 최적화된 완전히 자동화된 모듈식 시스템
2개의 독립적인 분석 스테이션을 통해 높은 처리량 제공
30분 이내에 BET 표면적 측정
최대 용량 증가 또는 지정 압력 범위 내에서의 투여 옵션
분석 온도 입력 또는 계산 가능
균형화 옵션으로 등온선의 다른 부분에 대한 평형화 시간을 사용자가 지정 가능
저 표면적 및 마이크로포어 옵션

- 이차전지 양/음극 활물질, 도전재 등 전극 구성 소재의 합성에 따른 비표면적 또는 비표면적 변화 분석 장비
·이차전지 양극재, 탄소계 소재, Si계 음극재, Ni계 양극재 등 소재의 원료, 공정 과정에서의 형상, 입도 변화에 따른 소재의 비표면적 변화 분석
- 성능 개선, 부반응 억제를 위한 표면개질 전/후 비표면적 비교 분석
·소재의 표면 제어를 통한 전해액과의 부반응, 안정적인 SEI layer 형성을 위한 개질, 저온 및 고온 수명 개선, 저장성능 개선 등의 소재 개선에 있어 비표면적의 변화 분석에 활용
- 나노소재, core-shell, hollow, wire, tube, sheet 등 0D~3D의 다양한 형태의 소재 비표면적 분석
·소재의 나노화, 2D, 1D 등 소재 합성 및 소재 디자인을 통해 비표면적 향상을 통한 고속 충/방전 성능 개선에 있어 비표면적의 변화 분석에 활용
- micro-, meso-, macro-porous 소재의 pore 정보 분석
- 이차전지 소재 제조공정 단계(전구체 → 중간단계(리튬화) → 양극재 → 셀)에 따른 소재의 입도, 형상 변화와 그에 따른 비표면적 및 pore 특성 분석