(주)선케이
SK-1280
10년
주장비
교육
기계가공·시험장비 > 반도체장비 > 칩검사기
2024-06-19
193,265,400원
없음
반도체 후공정 조립 진행이 완료된 package 를 조립 진행 공정인 wire bond 등 진행시 발생된 불량을
간단하게 open short 검사을 하는 장비로 QFP 류 및 SOP류, BGA 등 PACKAGE 조립 진행후 조립 불량을
선별하는 기능을 가지고 있음
반도체 후공정을 진행하여 완성된 package 에 대한 Pin-to-pin 간 Open 및 Short를 평가하는
검사 장비로 칩의 손상 방지를 위한 전원 비 인가 방식이며 chip & socket 간 contact 여부를
고속으로 스캔 프로빙 하는 기능을 보유하여 검사 시간을 단축시키는 기능이 있다
직접사용
고정형
건별
[Hr] 5,000원
크기 : 1200Wx800Dx720H
- 성능 : Channel 2560 ch
SMU O/S Test Time 3.5ms/pin
- 방식 : SMU Channel : 2 ch (Force/Sense 2 Wire)
- 시스템 구조 :
1) Die / Wire Bonding 이후 Pin간의 Open/Short를 판별 측정 결과를 Data log
2) 측정 Chip의 손상을 방지 하기 위하여 Power 핀 포함 모든 Pin은 인가되는 Current를 1mA, Voltage는 3V 이하에서 기준 검사.
Power(VDD)는 Non 인가.
3) DUT Board의 인터페이스 는 측정값의 안정을 위하여 반드시 Pogo핀을 사용
1. Source Measurement Unit
▪ Force Current : 1uA ~ 1mA
▪ Sense Voltage : 0~3V
▪ O/S test time : ≤3.5 ms for pin
▪ Contact Scan Probe : ≤100(mS) for 2560pin
▪ Ether-Net, RS232C connect
2. Device Interface Unit
▪ Pogo pin : 50~60.0g at 3.7mm
▪ Kelvin for pin : force/sense
▪ Vacuum clamping : force/sense
3. Device Socket Adapter
▪ Device 변경에 의한 COK (changeable)
▪ BGA socket : pogo pin
▪ QFP/TQFP : 표준 Socket 적용
4. Software
▪ 제품 제조사 및 납품업체에서 제공 기술지원
5. 테스터 일반 사양
▪ Channel : 2560 ch
▪ Max Channel (option) : 3072 ch
▪ Channel per Board : 128 ch
▪ Matrix Slot : 24 Slot
▪ SMU Channel : 2ch(Force/Sense 2Wire 방식)
▪ SMU Forcing Voltage : 0 ~ 3V
▪ SMU Forcing Current : 0 ~ 1mA
▪ SMU Sense Voltage : 0 ~ 3V
▪ SMU O/S Test Time : 3.5ms/pin
▪ Input Power : AC 1-Phase 220V 60Hz 100W (정격전력)
▪ Input Vacuum : 0.7Mpa
▪ Input Air : 0.7Mpa
6. Test System Controller
▪ RAM : 8GB/SSD120GB
▪ 24” Monitor or more
▪ LAN, Serial port