QRT

JESD226 [RF BIASED LIFE(RFBL) TEST TETHOD]

본 장비는 RF 반도체가 시간이 지나면서 노후화되어 고장이 발생할 때까지의 수명(Life Time)을 직접 측정하고 예측할 수 있는 장비임. 열화 시험결과 시료별 분류하며, 고장 기준에 따른 DUT 별 고장시간 자동 검출하고 신뢰성평가 데이터의 고장 분포 분석함. 가속수명 시험결과를 분석하며 장비운용을 제어하고 실시간 모니터링 데이터를 저장할 수 있음.

RF 무선 통신용 디바이스의 수명을 평가할 수 있다. RF-HTOL(고온동작시험)과 RF-ALT(가속수명시험) 지원 ,모든 DUTs (Device Under Tests)에 개별 RF, DC, 고온 스트레스 인가하고 각 DUT의 RF 매개변수 열화 특성을 실시간 검출할 수 있다. 각 DUT에 큰 온도 챔버 없이 고온 스트레스 공급하며 모든 시험 조건 및 제어 기능들의 원격 제어 및 테스트 절차 자동화 지원한다.
자체 개발 수명 분석 소프트웨어 제공할 수 있다. RF 수명 테스트 동안 수집된 데이터로부터 고장 분포 및 사용조건 수명 추정할 수 있다. 장비의 구성은 다음과 같다. RF Generation Unit(HW), Static Acceleration Unit(HW), Segma(life time Estimation SW), Q-map(분석 SW)