Thermo Fisher Scientific

없음

1. 이 시스템은 200 kV FEG 스캐닝 투과 전자 현미경(S/TEM)으로 나노 물질의 빠르고 정확하며 정량적인 특성화를 위해 설계되었다. 더 높은 데이터 품질, 더 빠른 획득 및 단순화되고 쉽고 자동화된 작동을 기반으로 물질의 나노 분석을 가속화한다.
2. 이 시스템은 완전히 원격으로 작동할 수 있으며 환경 면역력이 향상되었습니다.
3. 고해상도 STEM 및 TEM 이미징의 뛰어난 품질과 EDS 신호 감지 및 3D 화학 특성화와 조성 매핑의 비할 데 없는 발전을 결합한다.
4. 시스템은 소음이 진동, 음향, 전자기 간섭을 형성하도록 인클로저 커버여야 합니다.
5. 시스템은 TEM 및 STEM, CCD, EDS 시스템용으로 모두 내장되어 있어야 합니다.

주장비
1. TEM 200kV basic unit 1 set
2. High brightness and contrast FEG Unit 200 kV 1 set
3. Symmetric objective Lens with wide pole piece gab design 1 set
4. Fully inter locked differentially pumped column 1 set
5. Environmental enclosure 1 set
6. Operating PC with Windows10 OS 1 set
7. 24“ LCD monitor 3 set
8. HAADF Detector for 120/200 kV 1 set
9. High Sensitive Segmented STEM system hardware for TEM 1 set
10. On-axis BF/DF/ADF Detector 1 set
11. Automatic aperture system 1 set
12. Piezo-enhanced CompuStage 1 set
13. Single-tilt holder 1 set
14. High Visibility Low-background Double-tilt Holder 1 set
15. High-stability HT Generator 200 kV 1 set
16. UltraFast mapping SDD-EDS Detector (include 4-EDS channel Detector) 1 set
17. Fast 4k × 4k CMOS based Camera system 1 set
18. CCD Camera Embedding 1 set
19. Automated optics and column alignments. 1 set
20. Automated STEM alignment SW 1 set
21. Support PC 1 set