Rigaku
ZSX PRIMUS IV
10년
주장비
분석
화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기
공동활용서비스
2025-01-13
293,997,000원
ISO 14596
ㅇ 형광 X선 분석법(X-ray fluorescence analysis, XRF)은 시료에 X선을 조사해 2차적으로 발생하는 형광 X선을 이용해서 원소의 정성ㆍ정량 분석
ㅇ B ~ U 까지 모든 원소의 정성 및 정량 분석 가능
ㅇ 100%에서 ppm 수준의 농도까지 원소의 비파괴 분석
1. B ~ U까지 모든 원소의 정성 및 정량 분석 가능
2. 100%에서 ppm 수준의 농도까지 원소의 비파괴 분석
3. 산업계 공정관리 및 연구개발에 이용
4. 고체, 분말, 압축 펠릿, 액체, 슬러리, 필름 및 코팅 등 다양한 시료 분석
5. 시료 전처리 시간이 짧아 신속한 분석 지원
6. 박막두께 및 조성분석, mapping 분석법을 통하여 조성분포 분석
기관의뢰
고정형
건별
40,000원
ㅇ 형광 X선 분석법(X-ray fluorescence analysis, XRF)은 시료에 X선을 조사해 2차적으로 발생하는 형광 X선을 이용해서 원소의 정성ㆍ정량 분석
ㅇ B ~ U 까지 모든 원소의 정성 및 정량 분석 가능
ㅇ 100%에서 ppm 수준의 농도까지 원소의 비파괴 분석
1. X-ray generator
- Max. load : 4KW,
- Rh target (window thickness : 30μ)
2. Crystal
- LiF(200), PET, Ge, RX-26
- Crystal for B, C, N, O
3. Spectrometer assembly
- 48 sample changer type (24 sample changer )
- Primary beam X-ray filter : Ni400, Ni40, Al125, Al25
- 6 kind area limiting diaphragm (0.5, 1, 10, 20, 30, 35mm)
- 1/10 Attenuator
- Goniometer & Slit system (standard/high resolution)
- 10 Crystal exchanger and anlyzing crystal (1~4) LiF(200), PETH, GeH, RX-26 - Detector
- Scintillation counter & Flow Proportional counter(F-PC)
- Automatic pressure controller with two rotary pump
- Powder sample protection system
4. X-ray counting system and system controller include
- PHA unit & high voltage power supply for detector
5. Software package
- SQX software
- EZ scan
- Fixed angle mode
- Thin film FP
- Overlapping correction by theoretical intensity
- Drift correction library
- Photon electric FP method
- Atmosphere correction of He
- Correction of mylar f