NI

AQG 324,IEC60747,IEC60749

- 동적 고온 고습 역바이어스 시험기는 전력반도체 소자, 모듈의 동적 고온 고습 역바이어스 특성에 대한 신뢰성을 평가하는 장비
- 전력반도체 소자, 모듈의 전기적 성능 평가가 가능한 시스템으로 장기 평가가 가능하여 전력반도체 소자, 모듈의 수명 및 신뢰성 평가(AQG 324, QL-07a Dynamic high-humidity, high-temperature reverse bias (dyn.H3TRB))가 가능한 장비

- 전력반도체 소자, 모듈의 동적 고온 고습 역바이어스 특성에 대한 신뢰성을 평가하는 장비
- 전력반도체 소자, 모듈의 전기적 성능 평가가 가능한 시스템으로 장기 평가가 가능하여 전력반도체 소자, 모듈의 수명 및 신뢰성 평가가 가능함
- DUT 수: 80개
- 온도 범위: 50 ~ 175 ℃
- 온도와 습도 범위: 50~ 95 °C / 80 ~ 98 % rh
- DUT active stimuli, DUT type: Half bridge configuration devices, Voltage range: -5 V ~ + 20 V
- DUT passive stimuli, DUT type: discrete device (다이오드 포함),
- dVDS/dt: ≥30 V/ns
- Maximum Voltage: ≥1400 V
주파수 범위: 15 ~ 50 kHz
Duty cycle 범위: 25 ~ 75 % (5 % 간격) 또는 10 ~ 90 %
- 전자동 in-situ DUT leakage current 측정 관련, 500 uA current 측정 범위 해상도: 2 nA, 정확도: ± 1.25 uA,
- Isolation: 2 kV (channel to channel)
- Overcurrent protection
- IDSS in-situ 측정